徠卡EM TXP 標(biāo)靶面制備系統(tǒng)是用鋸，磨參與能力，銑削合理需求，拋光樣品后，供掃描電鏡，透射電鏡高質量，和LM技術(shù)檢測(cè)充分發揮。
帶有一體化體視鏡，用于精確定位及對(duì)較細(xì)微難以觀察的目標(biāo)位置進(jìn)行樣品處理時(shí)觀察管理；使用樣品旋轉(zhuǎn)手柄設計，可以改變樣品觀察角度，0°－60°可調(diào)改進措施，或者垂直于樣品前表面90°觀察就此掀開，可利用目鏡刻度標(biāo)尺測(cè)量距離。

徠卡EM TXP 標(biāo)靶面制備系統(tǒng)是用鋸今年，磨穩步前行，銑削，拋光樣品后動手能力，供掃描電鏡逐步改善，透射電鏡，和LM技術(shù)檢測(cè)重要的意義。
帶有一體化體視鏡持續，用于精確定位及對(duì)較細(xì)微難以觀察的目標(biāo)位置進(jìn)行樣品處理時(shí)觀察；使用樣品旋轉(zhuǎn)手柄再獲，可以改變樣品觀察角度產品和服務，0°－60°可調(diào)，或者垂直于樣品前表面90°觀察體驗區，可利用目鏡刻度標(biāo)尺測(cè)量距離增多。

為您帶來的優(yōu)勢(shì)

一體化自動(dòng)程序控制 一體化自動(dòng)程序控制，包括自動(dòng)左右制動(dòng)機(jī)制增幅最大，前進(jìn)反饋力控制共享應用，倒計(jì)數(shù)功能等，為使用者節(jié)約大量時(shí)間標準。	表面光潔度和標(biāo)靶檢測(cè) 表面處理與目標(biāo)檢測(cè)示範推廣，都通過一體化體視鏡來完成，用戶不需要專程將樣品拿出來再進(jìn)行表面觀察檢測(cè)即將展開，這可大大提高使用者的工作效率大幅增加。
適配工具多樣性 可適配多種多樣工具，從而使樣品不經(jīng)轉(zhuǎn)移就可以進(jìn)行研磨傳承，切割等特點，鉆孔，打磨及拋光多種。并且整個(gè)處理過程都可通過體視鏡進(jìn)行觀察監(jiān)控將進一步，大大節(jié)省時(shí)間和費(fèi)用充分發揮。