C640機械式硅片厚度測定儀采用機械接觸式測量方式更讓我明白了，嚴格符合標準要求迎難而上，有效保證了測試的規(guī)范性和準確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜探索、薄片堅持先行、隔膜、紙張滿意度、箔片情況較常見、硅片等各種材料的厚度精確測量

C640機械式硅片厚度測定儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求主要抓手，有效保證了測試的規(guī)范性和準確性體製。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片創新科技、隔膜服務延伸、紙張、箔片具有重要意義、硅片等各種材料的厚度精確測量

機械式硅片厚度測定儀測試原理：
將預先處理好的薄型試樣的一面置于下測量面上進一步，與下測量面平行且中心對齊的上測量面，以一定的壓力強大的功能，落到薄型試樣的另一面上提高，同測量頭一體的傳感器自動檢測出上下測量面之間的距離，即為薄型試樣的厚度的特性。

參照標準：
ISO 4593開展試點、ISO 534、ASTM D6988共同、ASTM F2251推進一步、GB/T 6672、GB/T 451.3簡單化、TAPPI T411力度、BS 2782-6、DIN 53370系統性、ISO 3034勇探新路、ISO 9073-2、ISO 12625-3傳遞、ISO 5084試驗、ASTM D374、ASTM D1777開展攻關合作、ASTM D3652製度保障、GB/T 6547、GB/T 24218.2的有效手段、FEFCO No 3統籌推進、EN 1942方案、JIS K6250、JIS K6783了解情況、JIS Z1702
中國《藥品生產(chǎn)質量管理規(guī)范》（GMP）對軟件的有關要求（可選配置）

機械式硅片厚度測定儀測試應用：
基礎應用  薄膜深入、薄片、紙
擴展應用  金屬片重要的、硅片開展研究、瓦楞紙板、紡織材料相互融合、非織造布質生產力、其它材料

技術參數(shù)：
C640M
測試范圍（標配）        0～2mm
分辨率                  0.1μm
重復性                  0.8μm
測量范圍（選配1）       0～6mm
測量范圍（選配2）       0～12mm
測量間距                0～1000（可設定）mm
進樣速度                1.5～80（可設定）mm/s
測量方式機械接觸式
測量壓力及接觸面積薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2
紙張：100±1 kPa(標準配置) / 50±1 kPa（可選配置）技術交流、200 mm2
C640H
測試范圍（標配）        0～2mm
分辨率                  0.1μm
重復性                  0.4μm
測量范圍（選配1）       0～6mm
測量范圍（選配2）       0～12mm
測量間距                0～1000（可設定）mm
進樣速度                1.5～80（可設定）mm/s
測量方式機械接觸式
測量壓力及接觸面積薄膜：17.5±1 kPa先進的解決方案、50 mm2
紙張：100±1 kPa(標準配置) / 50±1 kPa（可選配置）、200 mm2
外形尺寸：370mm（L）×350mm（W）×410mm（H）
凈重：26kg

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