原子力顯微鏡（Atomic force microscopy）是一種以物理學(xué)原理為基礎(chǔ)導向作用，通過(guò)掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。一般原子力顯微鏡利用探針對(duì)樣品掃描應用的選擇，探針固定在對(duì)探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上堅持好。

原子力顯微鏡  懸臂反射原子力顯微鏡  探針原子力顯微鏡

型號(hào)：HG13- NanoFirst-2000

產(chǎn)品介紹：

原子力顯微鏡（Atomic force microscopy）是一種以物理學(xué)原理為基礎(chǔ)，通過(guò)掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器大幅增加。一般原子力顯微鏡利用探針對(duì)樣品掃描特性，探針固定在對(duì)探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。懸臂受力偏折會(huì)引起由激光源發(fā)出的激光束經(jīng)懸臂反射后發(fā)生位移等特點。檢測(cè)器接受反射光建言直達，zui后接受信號(hào)經(jīng)過(guò)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)采集、處理將進一步、形成樣品表面形貌圖像充分發揮。 
產(chǎn)品特點(diǎn)：
計(jì)算機(jī)全數(shù)字化控制，操作簡(jiǎn)捷直觀提升行動。 
步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)進(jìn)行針尖--樣品逼近能力建設，保證實(shí)驗(yàn)圓滿成功。 
深度陡度測(cè)量研究進展，三維顯示無障礙。 
納米材料粗糙度測(cè)量連日來、顆粒徑度測(cè)量及分布統(tǒng)計(jì)。 
Ｘ認為、Ｙ二維樣品移動(dòng)平臺(tái)系統，快速搜索樣品區(qū)域． 
標(biāo)準(zhǔn)RS232串行接口,無(wú)需任何計(jì)算機(jī)卡 
樣品觀測(cè)范圍從0.001um-20000um。 
掃描速度達(dá)40000點(diǎn)/秒 
可選配納米刻蝕功能模塊重要意義。 
技術(shù)指標(biāo): 
AFM探頭 
樣品尺寸：直徑小等于30mm交流等；厚度小等于15mm。 
XYzui大掃描范圍：標(biāo)準(zhǔn)6X6微米 
0.25nm 
0.03nm(云母定標(biāo)) 
XY二維樣品移動(dòng)范圍：５mm規劃；精度0.5微米 
掃描器提高、針尖座智能識(shí)別 
44-283X連續(xù)變倍彩色CCD顯微觀察系統(tǒng)(選配) 
AFM電化學(xué)針尖塊，液電池進入當下，液體輕敲式成像功能（選配） 
全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺(tái)（選購(gòu)）