鏡利用探針對樣品掃描應用創新，探針固定在對探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。懸臂受力偏折會引

起由激光源發(fā)出的激光束經(jīng)懸臂反射后發(fā)生位移機構。檢測器接受反射光生產製造，zui后接受信號經(jīng)過計算機系統(tǒng)

采集、處理攜手共進、形成樣品表面形貌圖像共同。

計算機全數(shù)字化控制，操作簡捷直觀經過。 

步進馬達自動進行針尖--樣品逼近簡單化，保證實驗圓滿成功。 

深度陡度測量明確了方向，三維顯示系統性。 

納米材料粗糙度測量勇探新路、顆粒徑度測量及分布統(tǒng)計。 

Ｘ傳遞、Ｙ二維樣品移動平臺試驗，快速搜索樣品區(qū)域． 

標準RS232串行接口,無需任何計算機卡 

樣品觀測范圍從0.001um-20000um。 

掃描速度達40000點/秒 

可選配納米刻蝕功能模塊穩步前行。