迅速測定ppm級的有害金屬！
應對WEEE & RoHS最為顯著、ELV等有害物質相關法規(guī)尤為突出。
應對ASTM F963,EU_EN71美國和歐盟的玩具法規(guī)和指令，保證產品和用料的綠色環(huán)保環境。

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迅速測定ppm級的有害金屬空間載體！
應對WEEE & RoHS、ELV等有害物質相關法規(guī)相對簡便。
應對ASTM F963,EU_EN71美國和歐盟的玩具法規(guī)和指令重要組成部分，保證產品和用料的綠色環(huán)保。

Ｘ射線熒光分析裝置是使用Ｘ射線照射樣品合作，對產生的熒光Ｘ射線的能量進行檢測勃勃生機，測定構成樣品的元素種類及含量的裝置O致用戶體驗？蔁o損地進行固體提供有力支撐、粉體、液體建議、磁盤品率、單晶片等的元素分析，廣泛應用于各個領域不斷發展。特別是zui近積極影響，以歐盟的報廢電子電氣設備指令（WEEE）、電子電氣設備所含特定有害物質限制使用指令（RoHS）緊密協作、報廢汽車指令（ELV）以及玩具指令（ASTM F963越來越重要，EU_EN71）等法規(guī)為代表的綠色采購及環(huán)境分析之中，要求更為微量穩定性、更為迅速的分析像一棵樹。
為滿足這種需求，的EDX系列達到了更高的靈敏度與精度去突破。

測定原理     X射線熒光分析法

測定方法      能量色散型

測定對象      固體性能穩定、液體、粉狀

測定范圍      13Ai~92U

樣品室尺寸     zui大W370*D320*H155mm

迅速測定ppm級的有害金屬！
應對WEEE & RoHS情況正常、ELV等有害物質相關法規(guī)行業分類。
應對ASTM F963,EU_EN71美國和歐盟的玩具法規(guī)和指令，保證產品和用料的綠色環(huán)保提高鍛煉。

Ｘ射線熒光分析裝置是使用Ｘ射線照射樣品發展邏輯，對產生的熒光Ｘ射線的能量進行檢測，測定構成樣品的元素種類及含量的裝置有所提升÷牭眠M？蔁o損地進行固體、粉體先進水平、液體便利性、磁盤、單晶片等的元素分析重要平臺，廣泛應用于各個領域深刻認識。特別是zui近，以歐盟的報廢電子電氣設備指令（WEEE）應用提升、電子電氣設備所含特定有害物質限制使用指令（RoHS）主動性、報廢汽車指令（ELV）以及玩具指令（ASTM F963，EU_EN71）等法規(guī)為代表的綠色采購及環(huán)境分析之中發展的關鍵，要求更為微量道路、更為迅速的分析。
為滿足這種需求帶動產業發展，的EDX系列達到了更高的靈敏度與精度責任製。