普析XD6/7系列衍射儀資料，用于晶體物質(zhì)結(jié)構(gòu)定性定量分析。該產(chǎn)品在XD3基礎(chǔ)上設(shè)計(jì)關註度，測(cè)角儀掃描半徑可在150——285mm范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)橫向協同。

　　普析XD6/7系列衍射儀

　　儀器介紹

　　普析XD6/7系列衍射儀用于晶體物質(zhì)結(jié)構(gòu)定性定量分析。該產(chǎn)品在XD3基礎(chǔ)上設(shè)計(jì)敢於挑戰，測(cè)角儀掃描半徑可在150——285mm范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)不斷創新。該功能使得用戶可以在儀器測(cè)角分辨率和測(cè)試衍射線強(qiáng)度之間進(jìn)行均衡選擇，自行設(shè)定需要的試驗(yàn)條件提供了遵循，滿足不同情況試驗(yàn)需求參與水平。為了提高實(shí)驗(yàn)效率，XD6提高了快速轉(zhuǎn)動(dòng)速度服務效率，達(dá)到1800°/min明確相關要求。

　　普析XD6/7系列衍射儀主要特點(diǎn)

　　• 具備照射光斑面積恒定掃描功能模式。在對(duì)樣品進(jìn)行衍射圖譜全圖連續(xù)測(cè)試掃描情況下統籌發展，可極大增強(qiáng) 中高角度衍射峰峰強(qiáng)深化涉外，降低定性檢索受干擾的程度，提高定量分析的準(zhǔn)確性生產製造；

　　• 精度高開展試點，重現(xiàn)性達(dá)到 0.0005°攜手共進、測(cè)量重復(fù)性 0.001°、zui小步進(jìn)角度 0.0001°推進一步；

　　• zui快 1800° /min 的測(cè)角儀轉(zhuǎn)動(dòng)速度高質量，極大提高連續(xù)多樣品測(cè)試的效率；

　　• 全新的機(jī)柜外觀提高，*的安全性機構，機(jī)柜外輻射劑量低于 0.2μSv/h。