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條件：使用測試設備
DC I-V切實把製度，C-V和脈沖在一個測試環(huán)境中
直觀的點擊式Windows®環(huán)境
*的遠程前置放大器將SMU的分辨率擴展到0.1fA
C-V儀器使C-V測量與DC I-V一樣容易
脈沖和脈沖I-V功能保供，用于高級半導體測試
示波卡提供了集成的示波器和脈沖測量功能
自給自足的PC提供了快速的測試設置，強大的數(shù)據(jù)分析協同控製，圖形和打印以及測試結果的板載大容量存儲
*的瀏覽器式的Project Navigator按設備類型組織測試振奮起來，允許訪問多個測試品質，并提供測試序列和循環(huán)控制
針對點擊可靠性測試的內置壓力/測量，循環(huán)和數(shù)據(jù)分析深入各系統，其中包括五個符合JEDEC標準的樣品測試
對各種LCR表解決問題，吉時利開關矩陣配置以及吉時利3400和Keysight 81110脈沖發(fā)生器的集成支持
包括的分析探測器的軟件驅動程序