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Ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品緊密協作，進行物質(zhì)的定性分析越來越重要、晶格常數(shù)確定和應(yīng)力測定等線上線下。并且，可通過峰面積計算進行定量分析醒悟。
可通過半高寬數據顯示、峰形等進行粒徑/結(jié)晶度/精密Ｘ射線結(jié)構(gòu)解析等各種分析。
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Ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品也逐步提升，進行物質(zhì)的定性分析記得牢、晶格常數(shù)確定和應(yīng)力測定等。并且重要的作用，可通過峰面積計算進行定量分析更多可能性。
可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結(jié)晶度/精密Ｘ射線結(jié)構(gòu)解析等各種分析反應能力。
X射線發(fā)生部：2KW或3KW（CUP控制）
測角儀：θs/ θd聯(lián)動共謀發展，θs、θd獨立
掃描范圍：-12°~164°（2θ）結構重塑，-6°~82°（θs）, -6°~132°（θd）
選配件：大型R-θ樣品臺聽得懂，多毛細管平行光學(xué)系統(tǒng)
Ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品應用優勢，進行物質(zhì)的定性分析、晶格常數(shù)確定和應(yīng)力測定等全方位。并且高效節能，可通過峰面積計算進行定量分析。
可通過半高寬大局、峰形等進行粒徑/結(jié)晶度/精密Ｘ射線結(jié)構(gòu)解析等各種分析新創新即將到來。
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| 配備具有0.0001°zui小步進的高精度樣品水平型測角儀。根據(jù)分析目的主動性，可以選擇適合分析大型樣品的Ｌ型（zui大350mmφ樣品）和通用的S型創造性。 |
· XRD-7000系列配備了樣品水平型測角儀，能夠測定超大型樣品道路。
· 不但可進行定性/定量等基本分析規模設備，還可以應(yīng)用于殘留奧氏體定量、環(huán)境定量指導、晶格常數(shù)的精密化競爭力、結(jié)晶度的計算、晶體粒徑和晶格應(yīng)力的計算進一步完善、晶系確定集聚、Rietveid結(jié)構(gòu)解析軟件進行的晶體結(jié)構(gòu)解析。通過追加附件調整推進，還可以應(yīng)用于應(yīng)力測定狀況、樣品加熱過程的分析、薄膜樣品測定等機製。
· 利用新開發(fā)的大型R-θ樣品臺全過程，可以進行zui大350mmφ樣品全表面的自動應(yīng)力成圖測定。 | |
· 采用強大的多毛細管平行光束系統(tǒng)探討，可對應(yīng)凹凸不同的樣品的分析不負眾望，擴大應(yīng)用范圍。
使用多毛細管平行光束系統(tǒng)的測定實例
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