SPD 2000 多功能X射線衍射儀儀器簡(jiǎn)介：
用途：定性及定量分析著力增加，殘余應(yīng)力分析智能化，薄膜，質(zhì)地深入，非常規(guī)環(huán)境分析技術研究，奧氏體定量分析，晶粒尺寸/晶格應(yīng)變和結(jié)晶度計(jì)算

SPD 2000 多功能X射線衍射儀儀器簡(jiǎn)介：
 

用途：定性及定量分析開展研究，殘余應(yīng)力分析姿勢，薄膜，質(zhì)地首要任務，非常規(guī)環(huán)境分析綠色化，奧氏體定量分析，晶粒尺寸/晶格應(yīng)變和結(jié)晶度計(jì)算

多功能X射線衍射儀 技術(shù)參數(shù)：
 

? 常規(guī)的定性和定量分析 
? 殘余應(yīng)力分析 
? 薄膜發展，質(zhì)地 
? 非常規(guī)環(huán)境分析 
? 殘留奧氏體定量分析 
? 晶粒尺寸/晶格應(yīng)變和結(jié)晶度計(jì)算 
應(yīng)用領(lǐng)域 
? 環(huán)境保持穩定，土壤/巖石，粘土，礦石支撐作用，陶瓷 
? 水泥研學體驗，玻璃，石油最為突出，催化劑落實落細，聚合物 
? 農(nóng)業(yè)科學(xué)，生物科學(xué)發展目標奮鬥，化學(xué)技術先進，醫(yī)藥，化妝品延伸，涂料 
? 核工業(yè)認為，鋼鐵，紡織新趨勢，電子和磁性材料

多功能X射線衍射儀 主要特點(diǎn)：
 

SPD 2000為廣泛的分析需求提供了解決方案反應能力，從常規(guī)的定性和定量分析，到殘余應(yīng)力分析學習，薄膜結構重塑，質(zhì)地，非環(huán)境分析應用優勢，殘余奧氏體定量分析高質量發展，晶粒尺寸/晶格應(yīng)變和結(jié)晶度計(jì)算。 
SPD 2000的特點(diǎn) 
多功能X射線衍射儀 
有原位微處理器的超高穩(wěn)定性的X射線發(fā)生器高效節能，微處理器可通過(guò)電腦串行接口控制 
帶有可旋轉(zhuǎn)管的管罩更默契了，可以使用點(diǎn)聚焦或行聚焦 
調(diào)焦Kα1單色器可以得到高亮度和分辨率 
使用Max-FluxTM光學(xué)系統(tǒng)的平行光束光學(xué) 
透射模式和反射模式之間可以自動(dòng)轉(zhuǎn)換 
高精度，高速測(cè)角儀 
適合Ag培訓，Cr不合理波動， Fe， Cu重要工具， Co 積極拓展新的領域， Mo 輻射的二級(jí)單色器 
填充氙氣的正比，閃爍計(jì)數(shù)器更優質，線性或彎曲的位敏檢測(cè)器（PSD） 
非常規(guī)環(huán)境分析相對開放，低溫或高溫附件 
使用Microsoft Windows 98/NT/2000/ME 或 XP 操作系統(tǒng)，在32位環(huán)境下進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和儀器控制 
包括Rietveld精修的晶體結(jié)構(gòu)軟件