DX系列衍射儀是為材料研究和工業(yè)產品分析設計的，是常規(guī)分析與特殊目的測量相結合的完善產品基礎。

●硬件系統(tǒng)和軟件系統(tǒng)的*結合提供堅實支撐，滿足不同應用領域學者、科研者的需要

●高精度的衍射角度測量系統(tǒng)高產，獲取更準確的測量結果

●高穩(wěn)定性的X射線發(fā)生器控制系統(tǒng)信息化技術，得到更穩(wěn)定的重復測量精度

●程序化操作、一體化結構設計良好，操作簡便逐步顯現、儀器外型更美觀

X射線衍射儀是揭示材料晶體結構和化學信息的一種通用性測試儀器：

●未知樣品中一種和多種物相鑒定

●混合樣品中已知相定量分析

●晶體結構解析

●非常規(guī)條件下晶體結構變化（高溫、低溫條件下）

●材料表面膜分析

●金屬材料織構引領、應力分析

    X射線衍射儀可以分析天然或是人工合成的無機或是有機材料自動化裝置，廣泛應用于粘土礦物、水泥建材應用前景、環(huán)境粉塵開展攻關合作、化工制品、藥品預下達、石棉的有效手段、巖礦、聚合物等研究領域提升。

●基于θ-θ幾何光學設計大大提高，便于樣品的制備和各種附件的安裝

●金屬陶瓷X射線管的應用，*提高衍射儀運行功率

●封閉正比計數(shù)器研究成果，耐用免維護

●硅漂移探測器具有*的角度分辨率和能量分辨率取得了一定進展，測量速度提高3倍以上

●豐富的衍射儀附件，滿足不同分析目的需要

●模塊化設計或稱即插即用組件大面積，操作人員不需要校正光學系統(tǒng)積極參與，就能正確使用衍射儀相應附件

數(shù)據(jù)測量功能 

●θs-θd常規(guī)對稱測量

●定性、定量分析

●樣品晶體結構分析

●晶體結晶化評價

●晶格尺寸培養、晶格應力評價

θs-θd不對稱測量（掠射測量）

●薄膜/粉末樣品的定性分析和結構分析

●晶格常數(shù)的精確分析

●殘余應力/取向評價

●薄膜/密度測量

0mg搖擺測量

樣品結晶狀態(tài)的精確評價

    不同的測量功能都是為了研究材料結構而設計的交流研討，每種測量方式而得到的數(shù)據(jù)，都有滿足分析要求的相應數(shù)據(jù)處理軟件形式。

光學系統(tǒng)轉換 

    不需要拆卸索拉狹縫體建設應用，就可以單獨更換索拉狹縫結構。由于這一特點日漸深入，不需要重新調整儀器動力，就可以實現(xiàn)聚焦光學系統(tǒng)和平行光學系統(tǒng)的轉換。

    早前聚焦法光學系統(tǒng)和平行光束法光學系統(tǒng)分別需要配置彎曲晶體單色器和平面晶體單色器互動式宣講，光學系統(tǒng)的轉換需要對光學系統(tǒng)重新校正效高性。采用本系統(tǒng)只要將單色器的晶體旋轉90°模式、更換狹縫結構，就可以實現(xiàn)光學系統(tǒng)的轉換提升。

數(shù)據(jù)處理軟件包括以下功能

    基本數(shù)據(jù)處理功能（尋峰高品質、平滑、背景扣除的特點、峰形擬合、峰形放大有效保障、譜圖對比大數據、Kα1、α2剝離講實踐、衍射線條指標化等）數字技術；

●無標準樣品快速定量分析

●晶粒尺寸測量

●晶體結構分析（晶胞參數(shù)測量和精修）

●宏觀應力測量和微觀應力計算；

●多重繪圖的二維和三維顯示市場開拓；

●衍射峰圖群聚分析措施；

DX系列衍射儀除了基本功能外，可快速配置各種附件新模式，具有*的分析能力

    高精度的機械加工實現，使附件安裝位置的重現(xiàn)性*地提高，實現(xiàn)即插即用組織了。不需要對光路進行校準服務體系，只要在軟件中選定相應的附件就可以實現(xiàn)特殊目的測量。

多功能樣品架 

    隨著材料研究的深入搶抓機遇，越來越多的板材分析、塊狀材料及基體上的膜也要求用X射線衍射儀進行性能分析。在測角儀上安裝多功能樣品架可以進行織構全面闡釋、宏觀應力非常激烈、薄膜面內結構等測試，每一種測試功能都有相應的計算軟件引人註目。

●碾軋板（鋁領域、鐵、銅板等）織構測量及評價

●金屬好宣講、陶瓷等材料殘余應力測量

●薄膜樣品晶體優(yōu)先方位的評價

●大分子化合物取向測量

●金屬帶來全新智能、非金屬基體上的多層膜、氧化膜新產品、氮化膜分析

●衍射數(shù)據(jù)半峰寬校正曲線去完善；

●衍射數(shù)據(jù)角度偏差校正曲線；

●基于Rietveld常規(guī)定量分析長遠所需；

●使用ICDD數(shù)據(jù)庫或是用戶數(shù)據(jù)庫進行物相定性分析求索；

●使用ICDD數(shù)據(jù)庫或是ICSD數(shù)據(jù)庫進行定量分析；

    織構使材料呈現(xiàn)各向異性，利用織構改善和提高材料的性能穩定發展、充分發(fā)揮材料性能的潛力基石之一，是材料科學研究的重要工作之一。雖然檢測材料織構方法很多增持能力，但是zui廣泛應用的還是X射線衍射技術共同努力。

    多功能樣品架用于織構樣品測量，軟件計算后分別繪制出極圖追求卓越、反極圖逐漸完善、ODF圖。