XDS近紅外在線分析儀——直射光/非接觸型是用于非直接接觸樣品實時分析的新一代在線分析儀。無損精確的檢測可在任何移動或可接近的產品上進行自行開發，比如傳送帶進行部署、傳送網帶或薄膜上。非接觸型反射檢測可提供深層的化學成分分析應用情況，無論樣品質地松散還是緊實保護好，均勻或非均勻。非接觸型檢測可用于纖維狀表現、薄膜狀特點、多層疊加狀以及網狀樣品——如塑料深刻變革、紙張或紡織品等樣品的質量控制。

        XDS近紅外在線分析儀——直射光/非接觸型是用于非直接接觸樣品實時分析的新一代在線分析儀慢體驗。無損精確的檢測可在任何移動或可接近的產品上進行方案，比如傳 送帶、傳送網帶或薄膜上了解情況。非接觸型反射檢測可提供深層的化學成分分析深入，無論樣品質地松散還是緊實，均勻或非均勻重要的。非接觸型檢測可用于纖維狀開展研究、薄膜狀、多層 疊加狀以及網狀樣品——如塑料相互融合、紙張或紡織品等樣品的質量控制首要任務。
            檢測頭安裝在光纖的末端，由感應頭發(fā)出的高強度光穿透樣品不同需求，光與樣品作用后反射回感應頭發展，經收集光纖束傳送到儀器主機進行分光和信號檢測。XDS近紅外在 線分析儀的設計堅固耐用總之，為儀器在惡劣工業(yè)環(huán)境下操作時其性能和分析結果的*性和穩(wěn)定性提供了一個新標準面向。

儀器特性及優(yōu)勢
. 適用于移動樣品的無損原位近紅外檢測
. 直接在產品線上的反射檢測，無需直接接觸樣品
. 適用于傳送帶研學體驗、 傳送網帶上的均勻或非均勻的樣品
. 波長范圍： 800-2200 nm
. 儀器符合 NEMA 4X/IP65建設項目，不銹鋼檢測頭符合 IP69K 保護等級