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簡介：四探針測試儀

簡介：BY.79-51型數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置提升，它可以測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率的必然要求，擴(kuò)散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）研究成果。也可測柔性導(dǎo)電薄膜和玻璃等硬基底上導(dǎo)電膜的方...

簡介：詳情請

簡介：SZT-2000型數(shù)字式四探針測試儀是根據(jù)四探針測試原理研究成功的多用途的綜合測量裝置，它可以測量棒狀完善好、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率和半導(dǎo)體擴(kuò)散層的薄層電阻進(jìn)行測量大面積，可以從10-6--105Ω—cm全量...

簡介：產(chǎn)品名稱：雙電測四探針測試儀/四探針電阻率測試儀產(chǎn)品貨號：wi94293產(chǎn)地：國產(chǎn)

簡介：KDY-1型四探針電阻率/方阻測試儀（以下簡稱電阻率測試儀）是用來測量半導(dǎo)體材料（主要是硅單晶、鍺單晶問題分析、硅片）電阻率培養，以及擴(kuò)散層、外延層更加完善、ITO導(dǎo)電薄膜形式、導(dǎo)電橡膠方塊電阻的測量儀器。

簡介：測量范圍寬支撐作用、精度高日漸深入、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊同時、易操作的手持式設(shè)計互動式宣講；體積僅為：185mm(長)*90mm(寬)*30mm(高)；重量：350g模式；使用鋰電池供電自動化，一次充電可連續(xù)使用100小時；

簡介：儀器采用了電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數(shù)快競爭激烈、精度高開展面對面、測量范圍寬系統、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊進一步提升、易操作等特點(diǎn)。

簡介：測量范圍電阻率：0.001～200Ω.cm(可擴(kuò)展)營造一處；方塊電阻：0.01～2000Ω/□(可擴(kuò)展)改革創新；電導(dǎo)率：0.005～1000s/cm；電阻：0.001～200Ω.cm取得顯著成效；可測晶片直徑140mmX...

簡介：1．主機(jī)采用的*電路設(shè)計新模式，所測數(shù)值更精、更快不容忽視、更準(zhǔn)（一代為傳統(tǒng)式電路組織了，缺點(diǎn)：體積大，速度慢說服力，元器件繁多導(dǎo)致影響機(jī)器壽命）搶抓機遇。2．屏幕采用液晶顯示（一代為只有數(shù)碼管顯示），手自一體（自動是標(biāo)配表示，手動手...