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簡介：Agilent5529B基本系統(tǒng)：包括激光源領先水平、校準(zhǔn)器和材料補償板、材料和空氣傳感器雙重提升、電纜和附件戰略布局。Agilent5529VVectra系統(tǒng)：包括校準(zhǔn)器和材料補償板、HPVectraPC和superV...

簡介：ML10Gold是zui的用于長度計量的激光干涉儀,其zui大的優(yōu)點是所有測量功能均采用激光干涉原理,性能穩(wěn)定,使用可靠,功能擴展性強,價格適中

簡介：CNC機床深入開展、CMM更為一致、導(dǎo)螺桿及DRO直線校驗

簡介：1D激光主要可以測量定位誤差3D激光可以測量定位誤差、直線度誤差（雙向）5D/6D激光可以測量定位誤差技術的開發、直線度誤差（雙向）研究與應用、偏擺角、俯仰角和滾動角

簡介：雷尼紹renishaw激光干涉儀XL-80雷尼紹Renishaw的新型XL-80激光干涉儀能夠滿足和超越實際工業(yè)規(guī)范水平更高效，提供4m/szui大的測量速度和50kHz記錄速率全面協議。即使在zui高的數(shù)據(jù)記...

簡介：供應(yīng)德國Jenaer公司生產(chǎn)的雙頻激光干涉儀。

簡介：低價格的小型LD干涉儀具體而言。用于多種少量的小型鏡片的生產(chǎn)現(xiàn)場上的快速品質(zhì)檢查工具。通過簡單操作來進(jìn)行檢查。

簡介：低價格的小型LD干涉儀喜愛。手掌大小重要的角色、操作簡便。只要放置被檢鏡片向好態勢，便可簡單迅速地進(jìn)行測定平臺建設。

簡介：透過波面測定干涉儀KIF-PU是解析光學(xué)部品的透過波面像差的干涉儀系統(tǒng)。特別在光讀取頭用的生產(chǎn)線中貢獻力量，是評價對物透鏡以及準(zhǔn)直透鏡的透過波面的系統(tǒng)使用。

簡介：應(yīng)用了KIF-10A大幅拓展，用于測量光圈數(shù)目的測定儀。通過光圈數(shù)目與元器的比較更加堅強，可簡單地短時間內(nèi)進(jìn)行測定與時俱進。因采用非接觸的測定方式，不用擔(dān)心會破壞鏡片面以及元器不斷豐富。是在制造現(xiàn)場的工序測定中*的新檢測工具。