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SPM300 激光共聚焦多模態(tài)半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀

產(chǎn)品概述

在半導(dǎo)體制造過(guò)程中持續，諸如退火、切割、光刻等工序會(huì)在材料中引入應(yīng)力品牌。這些應(yīng)力可分為張應(yīng)力和壓應(yīng)力，分別對(duì)應(yīng)拉伸和壓縮作用更為一致。適當(dāng)?shù)膽?yīng)力有助于提升器件性能等形式，例如在硅晶體中引入張應(yīng)變可提高電子遷移率，從而增強(qiáng)器件速度研究與應用。然而飛躍，過(guò)度或不均勻的應(yīng)力可能導(dǎo)致材料缺陷、晶圓翹曲全面協議，甚至影響器件的可靠性和壽命重要部署。拉曼光譜作為一種非破壞性檢測(cè)技術(shù)，能夠高靈敏度地檢測(cè)材料中的應(yīng)力狀態(tài)工具。其原理基于光與材料內(nèi)化學(xué)鍵的相互作用的過程中，通過(guò)分析散射光譜的變化，獲取材料的應(yīng)力信息廣泛關註。

與其他檢測(cè)方法相比促進進步，拉曼光譜具有快速、無(wú)損優勢領先、空間分辨率高等優(yōu)勢(shì)迎來新的篇章，特別適用于半導(dǎo)體材料的應(yīng)力檢測(cè)。

什么是拉曼光譜測(cè)試不可缺少？

拉曼光譜是一種基于光與物質(zhì)相互作用的非破壞性分析技術(shù)蓬勃發展，主要用于研究材料的分子振動(dòng)、旋轉(zhuǎn)和其他低頻模式積極回應。當(dāng)單色激光照射到樣品上時(shí)重要性，大部分光子會(huì)發(fā)生彈性散射（瑞利散射），其頻率與入射光相同多種場景。然而多元化服務體系，約有一百萬(wàn)分之一的光子會(huì)與樣品分子發(fā)生非彈性散射，導(dǎo)致散射光的頻率發(fā)生變化擴大公共數據，這種現(xiàn)象被稱(chēng)為拉曼散射深度。

拉曼光譜通過(guò)檢測(cè)這些頻率變化，提供關(guān)于樣品分子結(jié)構(gòu)核心技術體系、化學(xué)鍵和分子間相互作用的信息開拓創新。在拉曼光譜中，每個(gè)峰對(duì)應(yīng)特定的分子振動(dòng)模式必然趨勢，其位置和強(qiáng)度反映了分子的特性促進善治。由于不同物質(zhì)的拉曼光譜具有獨(dú)*的特征擴大，因此被稱(chēng)為物質(zhì)的“化學(xué)指紋"，可用于快速識(shí)別和區(qū)分不同材料發揮效力。

此外新格局，拉曼光譜在檢測(cè)材料應(yīng)力和應(yīng)變方面也具有獨(dú)*優(yōu)勢(shì)。材料中的應(yīng)力會(huì)導(dǎo)致晶格結(jié)構(gòu)的變化服務水平，從而引起拉曼譜峰的位置和形狀發(fā)生變化最新。通過(guò)分析這些變化，可以非破壞性地評(píng)估材料的應(yīng)力狀態(tài)處理方法。

應(yīng)力的來(lái)源與檢測(cè)方法

應(yīng)力是指材料內(nèi)部由于外力或溫度變化等因素引起的內(nèi)力重要作用，通常以單位面積上的力來(lái)表示。根據(jù)作用方式習慣，應(yīng)力可分為：

張應(yīng)力（拉應(yīng)力）：使材料沿某方向伸長(zhǎng)的應(yīng)力充足。在半導(dǎo)體材料中，適當(dāng)?shù)膹垜?yīng)力可提高電子遷移率的積極性，增強(qiáng)器件性能綠色化發展。

壓應(yīng)力：使材料沿某方向縮短的應(yīng)力。在某些情況下不久前，壓應(yīng)力可能導(dǎo)致材料變形或性能下降效果。

在半導(dǎo)體制造過(guò)程中，如退火合規意識、切割密度增加、光刻等工序，都會(huì)引入應(yīng)力創新內容。適當(dāng)?shù)膽?yīng)力有助于提升器件性能機遇與挑戰，但過(guò)大的應(yīng)力可能導(dǎo)致材料缺陷、晶圓翹曲善於監督，影響器件的可靠性和壽命

檢測(cè)薄膜應(yīng)力的常用方法包括X射線(xiàn)衍射和拉曼光譜:

X射線(xiàn)衍射(XRD):通過(guò)測(cè)量晶格常數(shù)的變化來(lái)計(jì)算應(yīng)力集成技術。該方法精度高，但對(duì)樣品制備要求嚴(yán)格更合理，測(cè)量范圍較小適應能力，難以實(shí)現(xiàn)在線(xiàn)檢測(cè)。

拉曼光譜:通過(guò)檢測(cè)拉曼譜峰的位置變化來(lái)評(píng)估應(yīng)力有所應。該方法具有非接觸足了準備、無(wú)損、快速著力提升、空間分辨率高等優(yōu)點(diǎn)，適用于在線(xiàn)監(jiān)測(cè)和微區(qū)分析傳遞。

在半導(dǎo)體材料應(yīng)力檢測(cè)中的應(yīng)用

拉曼光譜作為一種非破壞性融合、高靈敏度的分析技術(shù)深入闡釋，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體材料的應(yīng)力檢測(cè)。通過(guò)分析拉曼譜峰的位置和形狀變化完成的事情，可以評(píng)估材料內(nèi)部的應(yīng)力狀態(tài)物聯與互聯。

單晶硅和多晶硅的應(yīng)力檢測(cè)

單晶硅和多晶硅在拉曼光譜中的特征峰位于約520CM 1處，對(duì)應(yīng)于硅的晶格振動(dòng)模式改造層面。

當(dāng)材料內(nèi)部存在應(yīng)力時(shí)供給，晶格常數(shù)發(fā)生變化，導(dǎo)致拉曼譜峰發(fā)生位移：張應(yīng)力（拉應(yīng)力）：使晶格常數(shù)增大經驗分享，拉曼譜峰向低波數(shù)方向移動(dòng)解決方案。

壓應(yīng)力：使晶格常數(shù)減小，拉曼譜峰向高波數(shù)方向移動(dòng)有力扭轉。

通過(guò)測(cè)量拉曼譜峰的位移量上高質量，可以定量評(píng)估材料中的應(yīng)力大小。例如廣度和深度，在多晶硅薄膜中著力增加，拉曼譜峰的頻移與殘余應(yīng)力之間存在線(xiàn)性關(guān)系，可用于計(jì)算應(yīng)力值科技實力。

拉曼光譜與應(yīng)變硅材料

應(yīng)變硅(STRAINED SILICON)技術(shù)通過(guò)在硅材料中引入應(yīng)變來(lái)提高載流子遷移率處理，從而提升器件性能。常見(jiàn)的方法包括:

引入張應(yīng)變：在硅中引入拉伸應(yīng)力在此基礎上，增大電子遷移率助力各行。

引入壓應(yīng)變：在硅中引入壓縮應(yīng)力，增大空穴遷移率提供有力支撐。

拉曼光譜可用于表征應(yīng)變硅材料的應(yīng)力狀態(tài)應用。應(yīng)變的存在會(huì)導(dǎo)致拉曼譜峰發(fā)生位移，且位移方向和幅度與應(yīng)變類(lèi)型和大小相關(guān)品率。通過(guò)分析拉曼譜峰的變化相貫通，可以評(píng)估應(yīng)變硅材料中的應(yīng)力分布和應(yīng)變程度，為器件設(shè)計(jì)和工藝優(yōu)化提供參考積極影響。

在多種半導(dǎo)體檢測(cè)中的拓展應(yīng)用

拉曼光譜作為一種非破壞性自動化方案、高靈敏度的分析技術(shù)，已在半導(dǎo)體領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用越來越重要，除應(yīng)力檢測(cè)外線上線下，還包括以下方面:

純度檢測(cè):拉曼光譜可用于評(píng)估半導(dǎo)體材料的純度，檢測(cè)雜質(zhì)和污染物的存在醒悟，從而確保材料質(zhì)量數據顯示。

合金成分分析:在1-V族半導(dǎo)體合金中，拉曼光譜可用于確定組分比例也逐步提升，分析材料的化學(xué)組成記得牢。

結(jié)晶度評(píng)估:通過(guò)分析拉曼譜峰的形狀和寬度註入了新的力量，可以評(píng)估材料的結(jié)晶度，判斷其晶體質(zhì)量更多可能性。

缺陷檢測(cè):拉曼光譜對(duì)晶格缺陷敏感去創新，可用于檢測(cè)材料中的缺陷和位錯(cuò)，評(píng)估其對(duì)器件性能的影響緊迫性。

產(chǎn)品特性和核心技術(shù)：

· 上述表格中的激光波長(zhǎng)調解製度、物鏡和單色儀等部件可以根據(jù)客戶(hù)需求調(diào)整密度增加。

應(yīng)用案例：

實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)

· 統(tǒng)一的軟件平臺(tái)和模塊化設(shè)計(jì)
· 良好的適配不同的硬件設(shè)備：平移臺(tái)有效性、顯微成像裝置創新內容、光譜采集設(shè)備機遇與挑戰、自動(dòng)聚焦裝置等

· 成熟的功能化模塊：晶圓定位、光譜采集善於監督、掃描成像Mapping集成技術、3D層析，Raman Mapping進一步，F(xiàn)LIM大部分，PL Mapping，光電流Mapping等實際需求。

· 智能化的數(shù)據(jù)處理模組：與數(shù)據(jù)擬合解決方案、機(jī)器學(xué)習(xí)、人工智能等結(jié)合的在線(xiàn)或離線(xiàn)數(shù)據(jù)處理模組善謀新篇，將光譜解析為成分增產、元素的分布等，為客戶(hù)提供直觀(guān)的結(jié)果方法⌒袆恿?？筛鶕?jù)客戶(hù)需求定制光譜數(shù)據(jù)解析的流程和模組

· 可根據(jù)客戶(hù)需求進(jìn)行定制化的界面設(shè)計(jì)和定制化的RECIPE流程設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)復(fù)雜的采集和數(shù)據(jù)處理功能切實把製度。

顯微光譜成像控制軟件界面

強(qiáng)大的光譜圖像數(shù)據(jù)處理軟件VISUALSPECTRA

顯示：針對(duì)光譜Mapping數(shù)據(jù)的處理保供，一次性操作，可對(duì)整個(gè)圖像數(shù)據(jù)中的每一條光譜按照設(shè)定進(jìn)行批處理進行部署，獲得對(duì)應(yīng)的譜峰責任、壽命、成分等信息保護好，并以偽彩色或3D圖進(jìn)行顯示組建。

顯微光譜成像控制軟件界面

3D顯示

基礎(chǔ)處理功能:去本底、曲線(xiàn)平滑系列、去雜線(xiàn)作用、去除接譜臺(tái)階、光譜單位轉(zhuǎn)化

進(jìn)階功能:光譜歸一化慢體驗、選區(qū)獲取積分著力增加、*大、*小科技實力、*大/*小值位置等

譜峰擬合:采用多種峰形(高斯處理、洛倫茲、高斯洛倫茲等)對(duì)光譜進(jìn)行多峰擬合,獲取峰強(qiáng)在此基礎上、峰寬助力各行、峰位前來體驗、背景等信息。

**功能:應(yīng)力擬合:針對(duì)Si確定性、GaN綠色化、SiC等多種材料,從拉曼光譜中解析材料的應(yīng)力變化,直接獲得應(yīng)力定量數(shù)值,并可根據(jù)校正數(shù)據(jù)進(jìn)行校正。

**功能:應(yīng)力擬合:針對(duì)S1發展、GAN保持穩定、SIC等多種材料,從拉曼光譜中解析材料的應(yīng)力變化,直接獲得應(yīng)力定量數(shù)值,并可根據(jù)校正數(shù)據(jù)進(jìn)行校正。

載流子濃度擬合

晶化率擬合

熒光壽命擬合

自主開(kāi)發(fā)的一套時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)(TCSPC)熒光壽命的擬合算法面向，主要特色

1.從上升沿?cái)M合光譜響應(yīng)函數(shù)(IRF)支撐作用，無(wú)需實(shí)驗(yàn)獲取。

2.區(qū)別于簡(jiǎn)單的指數(shù)擬合建設項目，通過(guò)光譜響應(yīng)函數(shù)卷積算法獲得每個(gè)組分的熒光壽命最為突出，光子數(shù)比例，計(jì)算評(píng)價(jià)函數(shù)和殘差相結合，可扣除積分和響應(yīng)系統(tǒng)時(shí)間不確定度的影響高效化，獲得更加穩(wěn)定可靠的壽命數(shù)值。

3.*多包含4個(gè)時(shí)間組分進(jìn)行擬合更多的合作機會。

熒光壽命擬合

主成分分析和聚類(lèi)分析

每個(gè)主成分的譜顯示

主成分的分布圖

主成分聚類(lèi)處理和分析