UHV NANOPEOBE是一個精密的分析儀器深入交流，不會破壞被分析樣品引領作用，用于納米尺度的四點(diǎn)接觸式電測量和用于復(fù)雜集成電路的納米器件的功能測試。 Omicron NanoScience成熟的SPM技術(shù)是能夠進(jìn)行納米尺度的探測技術(shù)的關(guān)鍵因素臺上與臺下，它提供精準(zhǔn)的探針導(dǎo)航和安全的針尖粗定位用的舒心，從而保護(hù)了*直徑僅有十幾 個納米的探針。

　　強(qiáng)大的集成四個獨(dú)立掃描探針顯微鏡的納米探測系統(tǒng)

　　納米技術(shù)領(lǐng)域的一個重大挑戰(zhàn)是如何將單個納米器件植入大型集成電路中集聚效應。器件工藝研究需要納米尺度大小器件的電子特性表征集成，相應(yīng)的也需要能夠?qū)⒏信d趣范圍從毫米尺度縮小至納米尺度的導(dǎo)航設(shè)備。

　　UHV NANOPEOBE是一個精密的分析儀器確定性，不會破壞被分析樣品更加廣闊，用于納米尺度的四點(diǎn)接觸式電測量和用于復(fù)雜集成電路的納米器件的功能測試。 Omicron NanoScience成熟的SPM技術(shù)是能夠進(jìn)行納米尺度的探測技術(shù)的關(guān)鍵因素講故事，它提供精準(zhǔn)的探針導(dǎo)航和安全的針尖粗定位非常完善，從而保護(hù)了*直徑僅有十幾 個納米的探針。