靈活的探測前沿技術，4步工作流程，高級的分析性能將高級的分析性能與場發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合性能，利用成熟的Gemini電子光學(xué)元件

• 利用探測術(shù)為您的需求定制 Sigma堅持先行，表征所有樣品。
  

• 利用 in-lens 雙探測器獲取形貌和成份信息滿意度。
  

• 利用新一代的二次探測器情況較常見，獲取高達50%的信號圖像。在可變壓力模式下利用 Sigma 創(chuàng)新的 C2D 和可變壓力探測器主要抓手，在低真空環(huán)境下獲取高達85%對比度的銳利的圖像體製。

• 4步工作流程讓您控制 Sigma 的所有功能。在多用戶環(huán)境中很重要，從快速成像和節(jié)省培訓(xùn)能力和水平，首先對樣品進行導(dǎo)航，然后設(shè)置成像條件異常狀況。

• 首先研究，先對樣品進行導(dǎo)航，然后設(shè)置成像條件應用創新。
  

• 接下來對樣品感興趣的區(qū)域進行優(yōu)化并自動采集圖像提高。最后使用工作流程的步，將結(jié)果可視化生產製造。

• 將掃描電子顯微鏡與基本分析相結(jié)合：Sigma 的背散射幾何探測器大大提升了分析性能開展試點，特別是對電子束敏感的樣品。

• 在一半的檢測束流和兩倍的速度條件下獲取分析數(shù)據(jù)共同。

• 獲益于 8.5 mm 短的分析工作距離和 35° 夾角推進一步，獲取完整且無陰影的分析結(jié)果。

• Gemini 鏡頭的設(shè)計結(jié)合考慮了電場與磁場對光學(xué)性能的影響簡單化，并將場對樣品的影響降至更低力度。這使得即使對磁性樣品成像也能獲得出色的效果。
  

• Gemini in-lens 的探測確保了信號探測的效率系統性，通過二次檢測(SE)和背散射(BSE)元件同時減少成像時間勇探新路。
  

• Gemini 電子束加速器技術(shù)確保了小的探測器尺寸和高的信噪比。