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SMU2600B:單或雙通道系統(tǒng)

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Keithley2600B系列系統(tǒng)SMU儀器是業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)電流-電壓源和測量解決方案高產,適用于高度自動化生產(chǎn)測試應(yīng)用

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Keithley 2600B 系列系統(tǒng) SMU 儀器是業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)電流-電壓源和測量解決方案,適用于高度自動化生產(chǎn)測試應(yīng)用發揮作用。 雙通道和單通道型號都緊密集成一個精密電源良好、真正電流源、數(shù)字萬用表和具有脈沖生成功能的電子負(fù)載銘記囑托。 另外引領,TSP® 技術(shù)可運行完整測試程序,適用于自動化系統(tǒng)應(yīng)用示範,TSP-鏈路®技術(shù)允許菊花式鏈接多 64 條通道應用前景,適用于大容量并行測試。



完整的生產(chǎn)測試運行好,無需犧牲空間

滿足您的所有生產(chǎn)測試需求首次,在同一空間內(nèi)有兩條隔離的寬動態(tài)源和測量通道可能性更大。 每條 40 W 通道提供 6? 位分辨率源,在小于 100 µs 脈沖寬度和設(shè)定值的 0.1% 范圍內(nèi)搖籃,測量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV技術。

特點

  • 在同一空間內(nèi)可有 2 條通道

  • 寬的電壓和電流動態(tài)范圍

  • 高度準(zhǔn)確的 100 µs 脈沖可擴展直流生產(chǎn)測試能力



嵌入式腳本提供的生產(chǎn)吞吐量

滿足您的所有生產(chǎn)測試需求,在同一空間內(nèi)有兩條隔離的寬動態(tài)源和測量通道深入。 每條 40 W 通道提供 6? 位分辨率源技術研究,在小于 100 µs 脈沖寬度和設(shè)定值的 0.1% 范圍內(nèi),測量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV開展研究。

特點

  • 消除與 PC 之間耗時的總線通信

  • 數(shù)據(jù)處理和流量控制

  • 通用型探頭/處理程序控制


系統(tǒng)性能積極參與,無主機

TSP-Link® 技術(shù)支持?jǐn)U展多達(dá) 64 條通道,支持高速培養、SMU-per-pin 并行測試(而不使用主機)交流研討。<500 ns="">

特點

  • 支持<500 ns="">

  • 可達(dá) 32 條或 64 條獨立 SMU 通道

      隨著測試要求變化輕松重新配置


適合生產(chǎn)的低電流性能

2635B 和 2636B SMU 在 100 pA 范圍內(nèi)提供 0.1 fA、10-16 分辨率形式,減少超低電平樣本檢定煩惱建設應用,確保生產(chǎn)成功。

特點

  • 在電流范圍內(nèi)穩(wěn)定時間快 7 倍

  • 具有市面上的低電流分辨率

  • 直接三芯同軸連接簡化了設(shè)置



System SourceMeter®10 µs 脈沖發(fā)生器/源測量單元 (SMU) 儀器將高電流/高速脈沖發(fā)生器的功能與傳統(tǒng) SMU 的測量及全部功能集于一臺儀器中日漸深入。其優(yōu)異的 10 A @ 10 V 快達(dá)10 μs 脈沖寬度和全 1 MS/s 數(shù)字化功能極大地提升了從臺式檢定到高度自動化脈沖式 I-V 生產(chǎn)測試等應(yīng)用的效率動力。



無需手動脈沖調(diào)整即可實現(xiàn)高脈沖保真度

通過 2601B-PULSE 控制回路系統(tǒng),高達(dá) 3μH 的負(fù)載變化無需手動調(diào)整互動式宣講,從而確保在任何電流水平( 10 安培)下輸出 10 μs 至 500 μs 脈沖時效高性,脈沖均不會出現(xiàn)過沖和振蕩。脈沖上升時間 < 1.7="">

  • 輸出 10 A @ 10 V自動化,脈沖寬度為 10 μs

  • 脈沖上升時間<>

  • 高保真脈沖輸出提升,在任何電流水平下均無需調(diào)整


將快速脈沖發(fā)生器功能與 SMU 功能集成至一臺儀器中

2601B-PULSE 在業(yè)界的吉時利 2601B SMU 儀器所提供的測量完整性、同步性不折不扣、速度和準(zhǔn)確性基礎(chǔ)上新增脈沖發(fā)生器功能支撐能力。

  • 通過 1 MS/s 的數(shù)字化功能,實現(xiàn)脈沖發(fā)生器 0.05% 的基本測量精度

  • SMU 100 nA 低電流范圍與 100 fA 靈敏度

  • 后面板 BNC 連接實現(xiàn)電纜快速設(shè)置


嵌入式腳本和連接提供的生產(chǎn)吞吐量

測試腳本處理器 (TSP®) 技術(shù)可在 SMU 儀器內(nèi)嵌入和執(zhí)行完整測試程序高效利用,提供業(yè)界性能特征更加明顯。TSP-Link® 技術(shù)支持?jǐn)U展多達(dá) 32 個 TSP 鏈路節(jié)點,以創(chuàng)建高速講理論、SMU-Per-Pin 并行測試(而不使用主機)數字技術。

  • 消除與 PC 之間耗時的總線通信

  • 數(shù)據(jù)處理和流量控制

  • 連接多達(dá) 32 個 TSP 鏈路節(jié)點

  • 隨著測試要求變化輕松重新配置




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