多功能原子力顯微鏡平臺機製，滿足納米級測量的需求
-原子力顯微鏡(AFM)有納米級分辨率成像以及電,磁,熱和機械性能測量的能力全過程。
-納米管掃描系統(tǒng)可用于高分辨率掃描離子電導(dǎo)顯微鏡(SICM)。
-倒置光學(xué)顯微鏡(IOM)便于透明材料研究和熒光顯微鏡一體化探討。
電化學(xué)測試的平臺
電池不負眾望，燃料電池，傳感器和腐蝕等電化學(xué)研究均處于快速增長階段調解製度，
然而許多原子力顯微鏡不能直接滿足其特殊的需求精準調控。Park NX12的人性化設(shè)計， 為快速操作提供便利應用的因素之一，從而達到化學(xué)研究人員要求的功能性和靈活性解決。這主要包括:
?多功能易用電化學(xué)池
?惰性氣體和濕度的環(huán)境控制選項
?雙恒電位儀的兼容性
研究人員可利用NX12平臺實現(xiàn)各種電化學(xué)應(yīng)用：
?掃描電化學(xué)顯微鏡(SECM)
?掃描電化學(xué)池顯微鏡(SECCM)
-電化學(xué)原子力顯微鏡(EC-AFM)和電化學(xué)掃描隧道顯微鏡(EC-STM)
光纖接入驅(qū)動聚焦平臺
。通過考驗的NX10性能 O配備倒置光學(xué)顯微鏡
頂置顯微鏡與倒置顯微鏡相結(jié)合的雙光路樣品臺,Park NX12埒Park原子力顯微鏡的多功能 性和準確性相結(jié)合敢於監督。為使用者提供機會研究不同透明度及不同硬度的樣品
基于AFM的電化學(xué)應(yīng)用
改系統(tǒng)在測量期間可以從各個角度幅度，頂部，側(cè)面以及頂部接入探針重要的作用。
這種可以大范圍投置燈光的方式與設(shè)備模塊設(shè)計相結(jié)合貢獻，還可添加光學(xué)或納米材料。
考慮建立多用戶設(shè)備
Park NX12重新構(gòu)建各方面，以適應(yīng)多用戶研究機構(gòu)需求防控。其他原子力顯微鏡解決方案缺乏必要的多功能性， 難以滿足該設(shè)備中用戶的多重需求適應性，很難合理控制設(shè)備成本堅實基礎。然而,Park NX12旨在能夠容納標準環(huán)境原子力 顯微鏡成像，液體掃描探針顯微鏡,光學(xué)和納米光學(xué)成像重要作用，使其成為最靈活的原子力顯微鏡之一等地。
?Park NX12是專E針對專業(yè)電化學(xué)研究人員需求量身定制的原子力顯微鏡平臺。
?它基于化學(xué)和電化學(xué)性質(zhì)尤為突出，氣體和液體中介質(zhì)的特性保供，為掃描探針顯微鏡提供了一個通用的解決方案, 可廣泛的應(yīng)用于不透明度的材料。
模塊化設(shè)計
?Park NX12基于其廣泛的可視光投置到掃描探針的掃描探針顯微鏡技術(shù)的納米管進行部署，易用性強責任。
?Park NX12準確度應用情況，是多用戶設(shè)備和職業(yè)研究人員的理想平臺。
-多功能應(yīng)用
ParkNX12功能廣泛,包括液體中的PinPoint™和納米力學(xué)組建，倒置光學(xué)顯微鏡定位透明樣品, 離子電導(dǎo)顯微鏡超軟樣品成像,以及增強透明樣品的光學(xué)可視性表現。
Park NX12提供了一種在液態(tài)和空氣中的納米力 學(xué)表征的完整解決方案，
使其成為廣泛應(yīng)用中的理想選擇深刻變革。
綜合性的力譜方法
NX12模塊化設(shè)計結論，安裝簡單，兼容性強, 可以滿足您的多種實驗需求質生產力。
精準和最容易操作的AFM
簡單的探針和樣品更換
的設(shè)計能讓您輕易地用手從側(cè)面更換新的探針和樣品適應性強。 借助安裝懸臂式探針夾頭中預(yù)先對齊的懸臂,無需再進行繁 雜的激光校準工作。
閃電般快速的自動探針接近
自動的探針樣品接近功能讓用戶無需進行干預(yù)操作先進的解決方案。通過監(jiān)視懸臂接近表 面的反應(yīng),Park NX12能夠在懸臂裝載后十秒內(nèi)幵始并自動快速完成探針 樣品接近操作拓展。高速Z軸掃描器的快速信息反饋和NX電子控制器的低噪聲 信號處理使得無需用戶干預(yù)就能快速接觸樣品表面。
快速精準激光調(diào)節(jié)
憑借我們的預(yù)校準懸臂架助力各行，懸臂在裝載時激光便已聚焦完畢前來體驗。此外，作為業(yè)內(nèi)一家可以提 供自上而下的同軸視角讓您輕松找到激光光點確定性。由于激光垂直照射在懸臂上更加廣闊，您可通過旋轉(zhuǎn)兩個 定位旋鈕直觀地在X軸丫軸移動激光光點。這樣您可以在激光準直頁面中輕易找到激光并將其定位 在PSPD上講故事。此時您只需要稍微調(diào)整到信號,便可幵始獲取數(shù)據(jù)非常完善。
Park NX12
靈活性，伸縮性高全面革新，可滿足各種需求
NX系列有適合大眾化的各種掃描模式作用，能滿足您的所有硏究需求。
選項
范圍廣泛的環(huán)境控制選項包括了多功能電化學(xué)池行業分類，控溫臺和濕度控制的手套箱.
規(guī)格：
掃描器Z掃描器
XY掃描器
尺寸單位為亳米
AFM掃描頭
SICM掃描頭
驅(qū)動臺
柔性引導(dǎo)高推動力掃描器 掃描范圍：15 nm(可選30卩m)
多層壓電疊層驅(qū)動器驅(qū)動的柔性引導(dǎo)結(jié)構(gòu) 掃描范圍：15 nm(可選30卩m)
閉環(huán)控制的柔性引導(dǎo)XY掃描器 掃描范圍：100卩m X100 |im
ParkNX12倒置光學(xué)顯微鏡
436 mm
影像
導(dǎo)致光學(xué)顯微鏡
XY驅(qū)動臺行程范圍:50mmx50 mm 樣品表面和懸臂的直觀同軸影像
Z驅(qū)動臺行程范圍:25 mm 聚焦驅(qū)動臺行程范圍：15mm
視野:840卩m X 630卩m (10倍物鏡) 攝像頭:5 M Pixel (默認)技術特點，IM Pixel (可選)
物鏡:直到99% 熒光顯微鏡(可選) 共聚焦顯微鏡(可選)
電子信號處理
ADC: 18通道
10倍(NA. 0.23)超長工作距離鏡頭
20倍(NA. 0.35)高分辨率，長工作距離鏡頭
集成功能
3通道數(shù)字鎖相放大器
24-bitADC的X,Y和Z掃描器位置傳感器彈性系數(shù)校準(熱方法)
DAC:17通道數(shù)據(jù)Q控制
20-bit DAC的X,Y和Z掃描器定位
選項/模式信號處理
化學(xué)性能
信號處理
軟件
?真?非接觸模式(TrueNon-ContacHMode)?掃描電化學(xué)池顯微鏡(SECCM)
?接觸模式?掃描電化學(xué)顯微鏡(SECM)
?側(cè)向摩擦力顯微術(shù)(LFM)
?相位成像模式
?輕敲模式
? Pinpoint^ 模式:Pinpoint 成像
?電化學(xué)原子力顯微鏡(EC-AFM) 和電化學(xué)掃描隧道顯微鏡(EC-STM)
?功能化採針的化學(xué)力顯微鏡
?真正的非接觸模式
?接觸模式
?側(cè)向摩擦力顯微術(shù)(LFM)
?相位成像模式
?輕敲模式
? Pinpoint^ 模式:Pinpoint 成像
力測量
磁性能
熱性能
625 mm
710 mm
?力一距離(F-D)光譜
?力譜成像
?磁力顯微鏡(MFM)
?可調(diào)外加磁場MFM
?掃描熱顯微鏡(SThM)
電性能機械性能
?導(dǎo)電AFM (CP-AFM)
?Pinpoint^ 導(dǎo)電AFM
?I-V譜線
?掃描開爾文採針顯微鏡(SKPM/KPM) ?高電壓SKPM
?Quickstep^掃描電容顯微鏡(SCM)?Pinpoint'發展邏輯，納米力學(xué)模式
?掃描電阻顯微鏡(SSRM)?力調(diào)制顯微鏡(FMM)
?掃描隧道顯微鏡(STM)?納米壓痕
?掃描隧道光譜(STS)?納米刻蝕
?光電流測繪(PCM)?高電壓納米刻蝕
?SICM Current-distance (l/d)Spectroscopy?納米操縱
手套箱(可選)
?可準確控制濕度
?氣體環(huán)境的構(gòu)成
?絕緣高反應(yīng)原料
Park SmartScanTM
配件
? AFM系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)采集的專用軟件
?自動模式的快速設(shè)置和簡易成像
?手動模式的高級使用和更精密的掃描控制
XEI
? AFM數(shù)據(jù)分析軟件
?獨立設(shè)計一-可獨立安裝和分析數(shù)據(jù)
?控溫臺
?手套箱
?磁場發(fā)生器
?液態(tài)選項
?隔音罩
?能夠生成采集數(shù)據(jù)的3D繪制
尺寸單位為亳米
ParkNX12倒置光學(xué)顯微鏡
