測(cè)試系統(tǒng)Inframet是能夠提供用于測(cè)試所有類型的光電成像系統(tǒng)和激光系統(tǒng)（紅外熱成像儀

測(cè)試系統(tǒng)

Inframet是能夠提供用于測(cè)試所有類型的光電成像系統(tǒng)和激光系統(tǒng)（紅外熱成像儀研究與應用，夜視設(shè)備，VIS-NIR相機(jī)（CCD / CMOS / ICCD / EBAPS）相機(jī)） 更高效，SWIR相機(jī)全面協議，UV相機(jī)，激光測(cè)距儀具體而言，激光指示器新的動力，激光照明器，激光指示器發展契機，多探測(cè)器監(jiān)控系統(tǒng)廣泛關註，融合圖像相機(jī)）和此類系統(tǒng)的模塊（圖像增強(qiáng)器，IR FPA傳感器發力，CCD / CMOS / EBAPS探測(cè)器優勢領先， 條紋管，離散紅外探測(cè)器）共創美好。 請(qǐng)查看專門針對(duì)不同類型的光電成像系統(tǒng)和模塊的章節(jié)中的詳細(xì)信息推動並實現。 我們的研發(fā)及制造能力使Inframet能夠提供針對(duì)潛在客戶的特定需求而化的各種測(cè)試系統(tǒng)。

紅外熱成像儀	VIS-NIR相機(jī)	夜視設(shè)備	SWIR相機(jī)
激光系統(tǒng)	軸對(duì)準(zhǔn)	多探測(cè)器系統(tǒng)	融合圖像相機(jī)
紫外相機(jī)	太赫茲相機(jī)	圖像增強(qiáng)器	條紋管
VIS-SWIR FPA探測(cè)器	IR FPA傳感器	離散探測(cè)器	光學(xué)模塊

根據(jù)提供的測(cè)試設(shè)備的復(fù)雜程度覆蓋範圍，Inframet建議一般可分為三組：

• 單一光電設(shè)備的測(cè)試系統(tǒng)

• 多套光電設(shè)備的測(cè)試系統(tǒng)

• 光電設(shè)備的國家計(jì)量測(cè)試系統(tǒng)

單一光電設(shè)備的測(cè)試系統(tǒng)（例如用于測(cè)試紅外熱成像儀的DT系統(tǒng)）被認(rèn)為是的情況優化程度。 我們絕大多數(shù)的訂單都屬于這個(gè)類型。 但是奮勇向前，我們所有的測(cè)試系統(tǒng)都可以提供一系列不同技術(shù)復(fù)雜程度的版本不斷豐富。 因此，在該組中可以找到用于測(cè)試短焦距紅外熱像儀的相對(duì)低成本的測(cè)試系統(tǒng)以及用于測(cè)試長焦空間應(yīng)用紅外熱像儀的昂貴的復(fù)雜的測(cè)試系統(tǒng)組建。

多套光電設(shè)備的測(cè)試系統(tǒng)通常適用于光電系統(tǒng)的大型生產(chǎn)商或者維修保養(yǎng)車間各有優勢，滿足其對(duì)于一系列的光電系統(tǒng)測(cè)試要求而只選用單一的測(cè)試設(shè)備用于光電系統(tǒng)的測(cè)試及計(jì)量。

光電設(shè)備的國家計(jì)量測(cè)試系統(tǒng)是Inframet可以執(zhí)行的別的訂單重要的意義。在這種情況下持續，Inframet提供的測(cè)試所有光電設(shè)備的測(cè)試系統(tǒng)需要具備校準(zhǔn)和如何使用現(xiàn)有的本地計(jì)量中心進(jìn)行再校準(zhǔn)校的能力等多個領域。通過這種方式，客戶所在國家實(shí)現(xiàn)了測(cè)試光電設(shè)備計(jì)量級(jí)別的能力產品和服務，而不依賴于外部的機(jī)構(gòu)應用擴展。

聯(lián)系指南

                      因產(chǎn)品特殊性，請(qǐng)您直接致電或者郵件聯(lián)系詢問您的測(cè)量需求增多，感謝您的關(guān)注與支持