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光學(xué)元件三維缺陷檢測儀

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光學(xué)元件三維缺陷檢測儀(ModelLS3D-2000)技術的開發,適用于各類光學(xué)材料的三維缺陷檢測和分析,特別是光學(xué)晶體提供深度撮合服務、光學(xué)玻璃的三維缺陷檢測和分析

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光學(xué)元件三維缺陷檢測儀(Model LS3D-2000),適用于各類光學(xué)材料的三維缺陷檢測和分析技術發展,特別是光學(xué)晶體集聚效應、光學(xué)玻璃的三維缺陷檢測和分析。本系統(tǒng)是一款快速重要手段、簡便互動講、高靈敏度檢測儀器。

產(chǎn)品特征

1像一棵樹、速度快過程中;

2、高靈敏度能運用;

3達到、一鍵式全自動操作。

主要技術(shù)參數(shù)
光學(xué)元件三維缺陷檢測儀

型號

LS3D-2000

缺陷檢測靈敏度

10 μm

樣晶尺寸范圍

尺寸可訂制

檢測速度

<2h@ 100 mmx 100 mmx20 mm

設(shè)備重量

300kg

注:可以根據(jù)客戶需求提供同類特制儀器和相關(guān)測試的解決方案不可缺少。


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