Paschen-Runge和Czerny-Turner相結(jié)合的“蝶形”光學(xué)結(jié)構(gòu)； 中壓力氬氣凈化系統(tǒng)品牌，提升長(zhǎng)期穩(wěn)定性并減少維護(hù)深入開展；

波長(zhǎng)范圍119-761nm，

可測(cè)量金屬材料中的O等形式、N技術的開發、H等氣體元素；

采用量子效率更高的CMOS飛躍；

全新設(shè)計(jì)的光源更高效，精度更高全面協議，功耗更低。

新型OE720是一款突破性的新型OES金屬分析儀具體而言。其涵蓋了金屬元素的全部光譜工具，并具有同類產(chǎn)品中低的檢出限。

由于行業(yè)法規(guī)日益嚴(yán)格喜愛，供應(yīng)鏈變得復(fù)雜以及更多地使用廢料作為基礎(chǔ)材料重要的角色，因此鑄造廠和金屬制造商將雜質(zhì)和痕量元素控制在ppm范圍內(nèi)。在過(guò)去向好態勢，OES對(duì)許多企業(yè)而言是遙不可及平臺建設。日立分析儀器推出的新型OE720可改變這一現(xiàn)狀。

這款直讀光譜儀可用于分析所有主要合金元素共創美好，并識(shí)別金屬中含量低的雜質(zhì)推動並實現、痕量元素和處理元素，如鋼中的氮覆蓋範圍。 OE720的測(cè)量速度快優化程度、可靠性高且運(yùn)營(yíng)成本低，可進(jìn)行高性價(jià)比的日常分析和質(zhì)量控制又進了一步，其性能可與更大多種場景、更貴的光譜儀媲美。

為什么選擇 OE720

1. 值得信賴的結(jié)果 在同類產(chǎn)品中控制雜質(zhì)和痕量元素的光學(xué)分辨 率規劃。

2. L綜合成本低 負(fù)擔(dān)得起的購(gòu)買和運(yùn)行成本擴大公共數據，提供更貴分析儀 器所具備的性能。

3. 保持運(yùn)行不間斷 設(shè)計(jì)可靠帶動擴大，維護(hù)和標(biāo)準(zhǔn)化要求低核心技術體系。

4. 支持連續(xù)生產(chǎn) 分析速度快，啟動(dòng)時(shí)間短持續發展，可快速反饋熔液質(zhì) 量必然趨勢。

只需一臺(tái)合理的OE720設(shè)備，就能提供快速的金屬質(zhì)量分析擴大，滿足您所有的需求多樣性。