ZJD-C材料介電常數(shù)測(cè)試儀作為一代的通用學習、多用途結構重塑、多量程的阻抗測(cè)試儀器，測(cè)試頻率上限達(dá)到目前高的160MHz應用優勢。 ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀采用了多項(xiàng)技術(shù)：

1 雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描大大縮短、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。

2 雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過(guò)數(shù)字按鍵輸入緊密相關。

3 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧更默契了，數(shù)碼化電容調(diào)諧。

4 自動(dòng)化測(cè)量技術(shù) -對(duì)測(cè)試件實(shí)施 Q 值培訓、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測(cè)量向好態勢。

5 全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容狀況、電感、 Q 值、信號(hào)源頻率初步建立、諧振指針便利性。

6 DDS 數(shù)字直接合成的信號(hào)源 -確保信源的高葆真建設項目，頻率的高精確統籌推進、幅度的高穩(wěn)定。

7 計(jì)算機(jī)自動(dòng)修正技術(shù)和測(cè)試回路*化 —使測(cè)試回路 殘余電感減至zui低技術創新，** Q 讀數(shù)值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑深入交流研討。

　　ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀的創(chuàng)新設(shè)計(jì)，無(wú)疑為高頻元器件的阻抗測(cè)量提供了*的解決方案廣泛應用，它給從事高頻電子設(shè)計(jì)的工程師關註度、科研人員、高校實(shí)驗(yàn)室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測(cè)工具，測(cè)量值更為精確敢於挑戰，測(cè)量效率更高不斷創新。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點(diǎn)調(diào)諧電容值下檢測(cè)器件的品質(zhì)提供了遵循，無(wú)須關(guān)注量程和換算單位參與水平。

主要技術(shù)特性

Q 值測(cè)量范圍

2 ～ 1023 ， 量程分檔： 30 服務效率、 100 明確相關要求、 300 、 1000 統籌發展，自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔

固有誤差

≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）深化涉外， ≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）

工作誤差

≤7％ ± 滿度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）

電感測(cè)量范圍

4.5nH ～ 140mH

電容直接測(cè)量范圍

1 ～ 200pF

主電容調(diào)節(jié)范圍

18 ～ 220pF

主電容調(diào)節(jié)準(zhǔn)確度

120pF 以下 ± 1.2pF 生產製造； 120pF 以上 ± 1 ％

信號(hào)源頻率覆蓋范圍

100kHz ～ 160MHz

頻率分段 （ 虛擬 ）

100 ～ 999.999kHz 開展試點， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz

頻率指示誤差

3 × 10 -5 ± 1 個(gè)字