IV Curve Tracer開短路測試失效分析電路電壓測試 更易于量取I/V data 及產(chǎn)生格式化的report。
Windows的操作系統(tǒng)深入交流研討，易學易懂資料，而所建立的Device之Pin Assignment 可儲存在電腦中廣泛應用，機臺可搭配Probe Station及Emmission Microscope做漏電分析。

I/V曲線量測儀IV Curve Tracer開短路測試失效分析電路電壓測試

IV Curve Tracer開短路測試失效分析電路電壓測試

         集成電路失效分析流程中橫向協同，I/V CURVE的量測往往是非破壞分析的第二步(外觀檢查排在*步)哪些領域，可見curve量測的重要性。隨著器件的pin腳數(shù)越來越多不斷創新，傳統(tǒng)的curve tracer(多為手動)沒有辦法滿足時效的需求建立和完善。Advanced推出的smart-1 auto curve tracer很好的滿足了客戶的需求，尤其是在BGA等通訊產(chǎn)品方面參與水平，具備安捷倫B1500和keithely4200*的便利性大型。國內(nèi)客戶有：上海宜碩、深圳宜智發(fā)明確相關要求、華為重要意義、珠海炬力、蘇州瑞薩行業內卷、蘇州三星追求卓越、東莞三星、SMIC能力和水平、天水華天覆蓋、無錫安盛、深圳沛頓研究、華測檢測等等

主要參數(shù)：

1. 高分辨率之I/V量測范圍,Voltage Measure Range可達 200mV ~ 200V（需搭配keithly 2400）高效， Current Measure Range可達1uA ~ 1A，且測試Channel可從 64 pin逐步擴充至Max.4096 pin提高，以滿足客戶多元化之產(chǎn)品測試需求機構。

2. 機臺主要測試功能，包括:Open/Short Test交流、I/V Curve Analysis基礎、Idd Measuring、Powered Leakage (漏電) Test

可協(xié)助客戶解決其產(chǎn)品在DC Fail之電性分析還不大，并節(jié)省客戶上Functional Tester 之借機成本及時間高產。
3.采用電腦化控制的操作系統(tǒng)，比傳統(tǒng)的Curve Tracer更易于量取I/V data 及產(chǎn)生格式化的report發揮作用。

4.Windows的操作系統(tǒng)良好，易學易懂，而所建立的Device之Pin Assignment 可儲存在電腦中銘記囑托，未來可重復被使用引領，比傳統(tǒng)的Switching Matrix更便利省時。

5.機臺可搭配Probe Station及Emmission Microscope做漏電分析。

IV Curve Tracer開短路測試失效分析電路電壓測試

6.機臺本身除了可作產(chǎn)品的失效分析外應用前景，還可結(jié)合Auto Handler有很大提升空間，做Mass Production之Open/Short Test，可謂一機多用首次。