Particle X
 

　　一款可以幫助您全自動(dòng)掃描樣品效果，抓取每一個(gè)顆粒幾何使用、成分特征，并能夠按照 ISO 標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)將這些顆粒進(jìn)行分類統(tǒng)計(jì)的超實(shí)用解決方案密度增加！
 

　　近來(lái)，越來(lái)越多的制造企業(yè)將掃描電鏡(SEM)引入到了企業(yè)內(nèi)部的生產(chǎn)創新內容、檢測(cè)環(huán)節(jié)中構建，一些掃描電鏡質(zhì)檢的外包工作也逐漸在越來(lái)越多企業(yè)的內(nèi)部完成。
 

　　這樣一來(lái)服務延伸，企業(yè)有充足的時(shí)間可以自主進(jìn)行大批量樣品檢測(cè)工作共創輝煌，也可以進(jìn)行更多更細(xì)分的實(shí)驗(yàn)，從而得到更加充足的數(shù)據(jù)對(duì)樣品按照國(guó)家進一步、標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行化學(xué)成分的分類及確認(rèn)大部分，進(jìn)而可以更準(zhǔn)確地對(duì)樣品的質(zhì)量等級(jí)進(jìn)行判定。
 

　　及時(shí)實際需求、準(zhǔn)確的產(chǎn)品質(zhì)量判定對(duì)于現(xiàn)代制造企業(yè)越來(lái)越重要解決方案，在一定程度上是企業(yè)軟實(shí)力的體現(xiàn)。
 

　　然而善謀新篇，在進(jìn)行 SEM 分析檢測(cè)的時(shí)候增產，由于放大倍數(shù)高，視野較小方法，很難做到對(duì)樣品臺(tái)上的樣品進(jìn)行真正意義上的“全面檢測(cè)”行動力。
 

　　檢測(cè)人員往往會(huì)隨機(jī)選擇十幾個(gè)或者幾十個(gè)隨機(jī)位置進(jìn)行拍照和能譜分析，以抽檢的形式判定產(chǎn)品的合格率切實把製度”９?？墒请S著制造業(yè)水平的逐漸上升，行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)日趨嚴(yán)格進行部署，對(duì)質(zhì)量檢驗(yàn)工作的要求也更加精細(xì)化責任。這也要求在微觀分析層面，SEM 的檢定需要上升到更大的覆蓋面利用好。
 

　　在一些特殊行業(yè)深入各系統，對(duì)于樣品的分析甚至需要上升到“一個(gè)不差”的級(jí)別，比如 3D 打印領(lǐng)域，尋找粉體材料中夾雜的雜質(zhì)顆粒等作用。在樣品臺(tái)中數(shù)十萬(wàn)顆顆粒樣品中尋求萬(wàn)分之幾含量的雜質(zhì)顆粒的過(guò)程無(wú)異于大海撈針相互配合，僅僅依靠人工尋找所耗費(fèi)的時(shí)間成本巨大，準(zhǔn)確程度也可能與實(shí)際結(jié)果大相徑庭著力增加。對(duì)于這樣的檢測(cè)過(guò)程智能化，引入自動(dòng)化無(wú)疑是的解決方案。
 

　　飛納電鏡一直以小巧方便處理、皮實(shí)耐用而廣受研究人員建設、質(zhì)檢工作者們喜愛。2019年開展研究，飛納公司發(fā)布了一套專門用于解決 “大海撈針” 問(wèn)題的全自動(dòng)質(zhì)量檢測(cè)解決方案：Particle X姿勢。
 

　　Particle X 是一套集成了全樣品掃描、顆粒識(shí)別首要任務、自動(dòng)能譜三種主要功能于一身的工具綠色化，可以 7 * 24 小時(shí)連續(xù)不間斷工作，幫助質(zhì)量檢測(cè)工作者檢查并判定樣品的質(zhì)量等級(jí)發展。下面以增材制造行業(yè) Particle X 的應(yīng)用場(chǎng)景和工作流程進(jìn)行說(shuō)明保持穩定。
 

　　增材制造(3D打印)行業(yè)金屬粉料質(zhì)量檢測(cè)
 

　　如前文所述，在 3D 打印行業(yè)中面向，對(duì)原始金屬粉料的檢測(cè)和篩選工作對(duì)于終成品的質(zhì)量控制至關(guān)重要支撐作用。的原始粉料應(yīng)具有非常均勻的幾何形狀(多為正球體)、良好的粒徑分布(大小均勻)建設項目、以及非常高的純度最為突出，這三個(gè)指標(biāo)的的合格與否將直接對(duì)產(chǎn)品的終質(zhì)量產(chǎn)生決定性作用。
 

　　在圖 2 中講道理，我們可以看到在原始粉料中常見的三類顆粒發展目標奮鬥，形狀、成分不合格的顆粒越少更多的合作機會，該批次的粉料質(zhì)量等級(jí)越高延伸。異形顆粒、雜質(zhì)的摻入會(huì)導(dǎo)致終產(chǎn)品出現(xiàn)不同程度的孔隙服務好，進(jìn)而減弱成品的力學(xué)性能新趨勢。
 

圖 2 質(zhì)量合格的粉料(左)、質(zhì)量不合格的粉料(中)共謀發展、硅酸鹽夾雜物(右)
 

圖 3 粉料電鏡檢測(cè)視野示意圖
 

　　對(duì)圖 3 這樣一批電鏡視野下金屬粉料進(jìn)行抽樣檢測(cè)可以大致劃定樣品的質(zhì)量區(qū)間學習，但是若想非常的明確它的質(zhì)量等級(jí)，人工抽檢幾百顆粉末顆粒都不足夠按照新的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)給出確定的評(píng)級(jí)聽得懂。
 

　　但是使用飛納 Particle X應用優勢，這一過(guò)程就變得異常簡(jiǎn)單且強(qiáng)大。我們只需將樣品放進(jìn) Particle X 電鏡，簡(jiǎn)單幾個(gè)設(shè)置高效節能，電鏡就可以自動(dòng)將樣品臺(tái)全部視野劃分成數(shù)個(gè)區(qū)域影響力範圍，自動(dòng)識(shí)別每一顆顆粒(圖4)，并在這些顆粒上做能譜分析新創新即將到來。這一過(guò)程真正做到了“一顆不差”不合理波動，取樣量巨大，得到的數(shù)據(jù)與實(shí)際情況高度一致重要工具，更重要的是積極拓展新的領域，抓取、分析數(shù)據(jù)的全過(guò)程更優質，都無(wú)需人工參與相對開放，根據(jù)樣品的多少，Particle X 可以實(shí)現(xiàn)連續(xù)幾個(gè)小時(shí)或數(shù)百個(gè)小時(shí)連續(xù)不間斷工作技術創新。
 

　　終深入交流研討，我們可以根據(jù)自己的需求利用 Particle X 自帶的生成報(bào)告模塊生成自己所需要的多種報(bào)表、圖表廣泛應用。
 

圖 4 Particle X 工作時(shí)將一個(gè)樣品臺(tái)分割成多個(gè)區(qū)域
 

圖 5 定制化報(bào)告——根據(jù)尺寸、成分制作的顆粒柱狀圖
 

　　小結(jié)
 

　　全新一代飛納 Particle X 桌面式掃描電鏡是一種高質(zhì)量的自動(dòng)分析解決方案橫向協同。
 

　　Particle X 具備超高速自動(dòng)分析能力哪些領域，并可以按照化學(xué)成分、幾何形狀等信息識(shí)別您的樣品并為它們做分類不斷創新，以超快的速度建立和完善、的識(shí)別準(zhǔn)確度全自動(dòng)支持您的生產(chǎn)、檢測(cè)環(huán)節(jié)參與水平。該系統(tǒng)高度自動(dòng)化大型，可同時(shí)測(cè)試多組樣品，測(cè)試所耗時(shí)間成本得到巨大幅度的下降明確相關要求。
 

　　當(dāng)我們把樣品外包給檢測(cè)公司時(shí)重要意義，一般都要等十個(gè)工作日左右才能取回結(jié)果，但使用 Particle X 這套系統(tǒng)一天就可以出結(jié)果深化涉外。其操作簡(jiǎn)單體系，上手速度快，企業(yè)內(nèi)部更多的工作人員可以用它進(jìn)行快速的顆粒和材料分析開展試點。 除了幫助企業(yè)節(jié)省出了外包送檢的時(shí)間攜手共進，Phenom Particle X 桌面電鏡的便捷還可以釋放很大一部分企業(yè)中其他大型 SEM 的壓力，承擔(dān)起日常樣品觀察推進一步、成分分析等責(zé)任經過。