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為什么掃描電鏡(SEM)是表征納米顆粒的實用技術(shù)

閱讀:246      發(fā)布時間:2019-04-25
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微觀顆粒在各個領(lǐng)域中的應(yīng)用飛速增長構建,而這些微觀顆粒的使用關(guān)鍵在于控制其性能參數(shù)。這篇文章將解釋為什么需要地對顆粒進行監(jiān)測和表征服務延伸,以及掃描電鏡如何在這個過程中扮演重要角色共創輝煌,主要得益于其多功能性和的空間分辨率。

 

“顆粒” 指在一定尺寸范圍內(nèi)具有特定形狀的幾何體進一步,這里所說的尺寸一般在毫米到納米之間大部分。實際上顆粒可以從亞原子尺寸(大小為10-15米)實際需求,到微觀范圍的原子(0.3Å)和分子(nm-μm)解決方案,再到宏觀尺寸,包括塵埃粒子 敢於監督,塵土幅度,皮膚(mm-cm)等。因此重要的作用,對“顆粒”定義是相當(dāng)困難的貢獻,通常可理解為顆粒在尺寸和形狀方面變化很大穩中求進。

 

微觀顆粒:它們?yōu)槭裁慈绱擞腥ぃ?/span>

 

微觀顆粒 —— 這類顆粒非常有趣統籌,因為它們被廣泛應(yīng)用于陶瓷、食品工業(yè)協同控製、電子振奮起來、聚合物和塑料、化妝品和制藥等領(lǐng)域利用好。經(jīng)證明深入各系統,這些顆粒的大小和形狀會影響材料的性能。

 

一般而言製度保障,大多數(shù)材料都與尺寸相關(guān)預下達。相同材料在納米尺寸上的物理性質(zhì)不同于宏觀尺度上的物理性質(zhì)。造成這種現(xiàn)象的有幾個因素:首先統籌推進,當(dāng)材料到達(dá)納米尺寸方案,經(jīng)典力學(xué)不再能夠描述這些過程,需要用到量子力學(xué)來描述了解情況。此外深入,材料的尺寸越小技術研究,比表面積增大,可能會影響材料的某些性能(圖1)開展研究。

 

圖1:由顆粒組成的材料的比表面積增加

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復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司

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