目錄:上海胤煌科技有限公司>>粒度及Zeta電位分析儀>>粒度及Zeta電位分析儀>> 多功能超聲粒度分析儀
公司介紹
美國MAS(Mass Applied Sciences)公司成立至今有30余年歷史橋梁作用,是一家專注于超聲電聲法原理粒度及Zeta電位分析儀的研發(fā)和生產(chǎn)型企業(yè)長遠所需。 公司研發(fā)的納米粒度及Zeta電位儀系列產(chǎn)品,解決了目前市面上光學(xué)方法無法克服的納米粒度檢測難題讓人糾結,如光學(xué)方法必須要對樣品進行稀釋 后測試其粒徑和zeta電位以及對于復(fù)雜體系無法給出真實的粒度分布等 規模。目前,美國MAS多功能超聲粒度分析儀儀系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000組成基石之一,可以為各行業(yè)提供專業(yè)的粒度和Zeta電位解決方案聯動。 超聲法系列粒度儀測試樣品的原理是采用聲波發(fā)生器發(fā)出一定頻率和強度的超聲波,由于不同粒徑大小的顆粒對聲波的吸收共同努力、散射作用不同行業內卷, 導(dǎo)致聲波衰減程度不同。從而通過顆粒的聲衰減譜得到顆粒詳細(xì)準(zhǔn)確的粒度分布逐漸完善。
典型應(yīng)用:
綜合穩(wěn)定水泥漿參與能力,陶瓷,化學(xué)機械研磨異常狀況,煤漿研究,涂料,化妝品應用創新,環(huán)境保護禪選法礦物富集提高,食品工業(yè),乳膠改善,微乳空白區,混合分散體系,納米粉信息化,無水體系形勢,油漆成像材料。
主要特點:
1)能分析多種分散物的混合體取得明顯成效;
2)無需依賴Double Layer模式約定管轄,準(zhǔn)確地判定等電點;
3)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系創新的技術;
4)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾發揮;
5)可準(zhǔn)確測量無水體系;
6)Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù)快速增長,無需先測量粒度即可進行電位測量開放以來;
7)樣品的高濃度可達(dá)60%(體積比),被測樣品無需稀釋高質量,對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量提供了有力支撐;
8)具有自動電位滴定功能;
優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢:
1)被測樣品無需稀釋;
2)排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾進一步意見;
3)不需定標(biāo)增幅最大;
4)能分析多種分散物的混合體;
5)高精度的必然要求;
6)所檢側(cè)粒徑范圍款從5 nm至1000um
多功能超聲粒度分析儀
優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢:
1)無需定標(biāo)研究成果;
2)能測更寬的粒徑范圍;
3)無需依賴Double Layer模式
4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲完善好;
5)零表面電荷條件下也可測量粒徑;
6)可適用于無水體系積極參與;
7)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系問題分析;
優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢:
1)無需稀釋,固合量高達(dá)60%交流研討;
2)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾更加完善;
3)高精度(±0.1mv);
4)低表面電荷(可低至0. 1mv)建設應用;
5)electrosmotic flow不影響測量支撐作用;
6)對流(convection)不影響測量;
7)可準(zhǔn)確測量無水體系背景下;
多功能超聲粒度分析儀
技術(shù)參數(shù):
1)所檢測粒徑范圍寬:從5 nm至1000um綜合措施;
2)可測量參數(shù):粒度分布、固含量自然條件、Zeta電位設計標準、等電點IEP、E5A互動互補、電導(dǎo)率發揮重要帶動作用、PH、溫度意料之外、聲衰減文化價值;
3)Zeta電位測量范圍:+/-200 mv,低表面電荷(可低至0. 1mv)置之不顧,高精度(±0.1mv);
4)零表面電荷條件下也可測量粒徑不斷完善;
5)允許樣品濃度:0.1-60%(體積百分?jǐn)?shù));
6)樣品體積:30-230ml空間廣闊;
7)PH范圍:0~14;
8)電導(dǎo)率范圍:0~10 s/m
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)