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公司介紹
美國MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年歷史更多的合作機會，是一家專注于超聲電聲法原理粒度及Zeta電位分析儀的研發(fā)和生產(chǎn)型企業(yè)延伸。 公司研發(fā)的納米粒度及Zeta電位儀系列產(chǎn)品，解決了目前市面上光學方法無法克服的納米粒度檢測難題服務好，如光學方法必須要對樣品進行稀釋 后測試其粒徑和zeta電位以及對于復雜體系無法給出真實的粒度分布等 新趨勢。目前，美國MAS多功能超聲粒度分析儀儀系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000組成共謀發展，可以為各行業(yè)提供專業(yè)的粒度和Zeta電位解決方案學習。 超聲法系列粒度儀測試樣品的原理是采用聲波發(fā)生器發(fā)出一定頻率和強度的超聲波，由于不同粒徑大小的顆粒對聲波的吸收聽得懂、散射作用不同應用優勢， 導致聲波衰減程度不同。從而通過顆粒的聲衰減譜得到顆粒詳細準確的粒度分布全方位。
典型應用：
綜合穩(wěn)定水泥漿高效節能，陶瓷，化學機械研磨大局，煤漿新創新即將到來，涂料，化妝品有序推進，環(huán)境保護禪選法礦物富集設施，食品工業(yè)，乳膠道路，微乳規模設備，混合分散體系多種方式，納米粉對外開放，無水體系，油漆成像材料深入交流研討。
主要特點：
1）能分析多種分散物的混合體資料；
2）無需依賴Double Layer模式，準確地判定等電點關註度；
3）可適用于高導電(highly conducting)體系橫向協同；
4）可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾哪些領域；
5）可準確測量無水體系；
6）Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù)不斷創新，無需先測量粒度即可進行電位測量建立和完善；
7）樣品的高濃度可達60%(體積比)，被測樣品無需稀釋參與水平，對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量大型；
8）具有自動電位滴定功能；
優(yōu)于光學方法的技術(shù)優(yōu)勢：
1)被測樣品無需稀釋明確相關要求；
2)排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾重要意義；
3)不需定標；
4)能分析多種分散物的混合體深化涉外；
5)高精度體系；
6)所檢側(cè)粒徑范圍款從5 nm至1000um
多功能超聲粒度儀
優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢：
1)無需定標；
2)能測更寬的粒徑范圍開展試點；
3)無需依賴Double Layer模式
4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲攜手共進；
5)零表面電荷條件下也可測量粒徑；
6)可適用于無水體系進一步；
7)可適用于高導電(highly conducting)體系大部分；
優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢：
1)無需稀釋，固合量高達60%實際需求；
2)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾解決方案；
3)高精度(±0.1mv)；
4)低表面電荷(可低至0. 1mv)善謀新篇；
5)electrosmotic flow不影響測量增產；
6)對流(convection)不影響測量；
7)可準確測量無水體系方法；
多功能超聲粒度儀
技術(shù)參數(shù)：
1)所檢測粒徑范圍寬：從5 nm至1000um行動力；
2)可測量參數(shù)：粒度分布、固含量發揮作用、Zeta電位良好、等電點IEP、E5A銘記囑托、電導率引領、PH、溫度示範、聲衰減應用前景；
3)Zeta電位測量范圍：+/-200 mv，低表面電荷(可低至0. 1mv)運行好，高精度(±0.1mv);
4)零表面電荷條件下也可測量粒徑首次；
5)允許樣品濃度：0.1-60%(體積百分數(shù))可能性更大；
6)樣品體積：30-230ml；
7)PH范圍：0~14;
8)電導率范圍：0~10 s/m
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