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測量原理
一. 磁吸力測量原理及測厚儀
磁鐵(測頭)與導磁鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關結論，這個距離就是覆層的厚度和諧共生。利用這一原理制成測厚儀質生產力，只要覆層與基材的導磁率之差足夠大，就可進行測量技術交流。鑒于大多數(shù)工業(yè)品采用結(jié)構(gòu)鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型先進的解決方案，測厚儀基本結(jié)構(gòu)由磁鋼，接力簧創造更多，標尺及自停機構(gòu)組成宣講活動。磁鋼與被測物吸合后，將測量簧在其后逐漸拉長工藝技術，拉力逐漸增大效率。當拉力剛好大于吸力，磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度近年來。新型的產(chǎn)品可以自動完成這一記錄過程適應性。不同的型號有不同的量程與適用場合節點。
這種儀器的特點是操作簡便、堅固耐用落地生根、不用電源的特點，測量前無須校準，價格也較低有效保障，很適合車間做現(xiàn)場質(zhì)量控制大數據。
磁感應測量
采用磁感應原理時，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小講實踐，來測定覆層厚度數字技術。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度為產業發展。覆層越厚範圍和領域，則磁阻越大，磁通越小各項要求。利用磁感應原理的測厚儀更高要求，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上新技術。如果覆層材料也有磁性共同學習，則要求與基材的導磁率之差足夠大(如鋼上鍍鎳)。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時深入，儀器自動輸出測試電流或測試信號效高。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測量感應電動勢的大小基礎，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度性能。近年來的電路設計引入穩(wěn)頻、鎖相對外開放、溫度補償?shù)鹊匦录夹g(shù)技術創新，利用磁阻來調(diào)制測量信號。資料，引入微機廣泛應用，使測量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高(幾乎達一個數(shù)量級)。現(xiàn)代的磁感應測厚儀橫向協同，分辨率達到0.1um哪些領域，允許誤差達1%，量程達10mm長遠所需。
磁性原理測厚儀可應用來精確測量鋼鐵表面的油漆層求索，瓷、搪瓷防護層規模，塑料穩定發展、橡膠覆層管理，包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層，以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層能力建設。
電渦流測量
高頻交流信號在測頭線圈中產(chǎn)生電磁場模樣，測頭靠近導體時，就在其中形成渦流服務。測頭離導電基體愈近很重要，則渦流愈大，反射阻抗也愈大覆蓋。這個反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小異常狀況，也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度高效，所以通常稱之為非磁性測頭應用創新。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料機構。與磁感應原理比較的特性，主要區(qū)別是測頭不同，信號的頻率不同基礎，信號的大小提供堅實支撐、標度關系不同。與磁感應測厚儀一樣高產，渦流測厚儀也達到了分辨率0.1um信息化技術，允許誤差1%，量程10mm的高水平良好。
采用電渦流原理的測厚儀逐步顯現，原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量，如航天航空器表面引領、車輛自動化裝置、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆勞動精神，塑料涂層及陽極氧化膜開展攻關合作。覆層材料有一定的導電性結構不合理，通過校準同樣也可測量動手能力，但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。雖然鋼鐵基體亦為導電體意見征詢，但這類任務還是采用磁性原理測量較為合適提升。
DRF系列測厚儀特點:
具有兩種測量方式:連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE);
具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(APPL);
設有五個統(tǒng)計量:平均值(MEAN)、大值(MAX)的必然要求、小值(MIN)研究成果、測試次數(shù)(NO.)取得了一定進展、標準偏差(S.DEV)
可進行零點校準和二點校準，并可用基本校準法對測頭的系統(tǒng)誤差進行修正;
具有存貯功能:可存貯300個測量值;
具有刪除功能:對測量中出現(xiàn)的單個可疑數(shù)據(jù)進行刪除,也可刪除涂層測厚儀存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)大面積，以便進行新的測量;
可設置限界:對限界外的測量值能自動報警;
具有與PC機通訊的功能:可將測量值積極參與、統(tǒng)計值傳輸至PC機，以便涂層測厚儀對數(shù)據(jù)進行進一步處理; 具有電源欠壓指示功能;
操作過程有蜂鳴聲提示;
具有錯誤提示功能;
具有自動關機功能培養。
影響因素
有關說明
a 基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應用中交流研討，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響形式，應使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準;亦可用待涂覆試件進行校準建設應用。
b 基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關日漸深入。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準動力。
c 基體金屬厚度
每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度互動式宣講，測量就不受基體金屬厚度的影響效高性。本儀器的臨界厚度值見附表1。
d 邊緣效應
本儀器對試件表面形狀的陡變敏感自動化。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量是不可靠的節點。
e 曲率
試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大落地生根。因此的特點，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
f 試件的變形
測頭會使軟覆蓋層試件變形有效保障，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)大數據。
g 表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大講實踐，影響增大空間廣闊。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時改革創新，在不同位置上應增加測量的次數(shù)知識和技能，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙新模式，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點;或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后實現，再校對儀器的零點。
g 磁場
周圍各種電氣設備所產(chǎn)生的強磁場組織了，會嚴重地干擾磁性法測厚工作服務體系。
h 附著物質(zhì)
本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)分析，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸表示。
i 測頭壓力
測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此非常激烈，要保持壓力恒定競爭力所在。
j 測頭的取向
測頭的放置方式對測量有影響。在測量中領域，應當使測頭與試樣表面保持垂直
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