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隨著各行各業(yè)對電子產(chǎn)品的需求逐漸增加狀況，電子元器件也逐漸變得更精密機製性梗阻。對元器件的外觀或更精細的內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的觀察與檢測也成為了檢驗其品質(zhì)的關(guān)鍵。為加強技術(shù)交流全過程，分享先進的制樣方法經(jīng)驗集成應用。10月26日，電子樣品顯微切片與無損檢測技術(shù)研討會在松山湖材料實驗室圓滿落幕不負眾望。
本次研討會主要是技術(shù)交流與現(xiàn)場上機操作指導(dǎo)高效流通。參會人員不僅能現(xiàn)場交流分析與探討電子樣品顯微切片與無損檢測技術(shù)，更能現(xiàn)場近距離體驗設(shè)備的操作與觀察樣品精準調控。
會議的開場由松山湖材料實驗室研究員胡偉老師致辭功能，歡迎各方到來的來賓參加此次會議，并對松山湖材料實驗室進行介紹解決。
隨后由領(lǐng)拓的高級應(yīng)用工程師任飛霖講解了電子樣品切片分析的常見問題解析及應(yīng)用分享預期。再由領(lǐng)拓的高級應(yīng)用工程師鄒子康進行電子樣品內(nèi)部無損檢測應(yīng)用分享。最后由徠卡的高級應(yīng)用工程師包沈源博士進行離子研磨技術(shù)在電子元器件的應(yīng)用探討幅度。上半場的會議既有深刻的理論深度結構，又有寶貴的應(yīng)用案例更合理，干貨滿滿，獲得了現(xiàn)場參會人員的好評更優美。
會議現(xiàn)場
下半場對松山湖材料實驗室進行參觀各方面，并進行現(xiàn)場上機操作指導(dǎo)。參觀過程中成效與經驗，工作人員對松山湖材料實驗室現(xiàn)有的設(shè)備進行了詳細介紹適應性。同時，領(lǐng)拓的應(yīng)用工程師還為參觀人員現(xiàn)場演示了樣品的檢測過程稍有不慎，就現(xiàn)場參會人員咨詢的問題進行了詳細解答及操作演示重要作用。
實驗室現(xiàn)場
為了感謝大家的到來，領(lǐng)拓團隊還為現(xiàn)場的參會人員派發(fā)活動券最為顯著，開展活動尤為突出，現(xiàn)場氛圍活躍，大家都積極參與活動自行開發，爭當幸運兒進行部署。活動結(jié)束后還貼心的為大家準備了茶歇以及午餐券。
活動
一等獎
二等獎
三等獎
領(lǐng)拓儀器對會議的安排以及在眾多設(shè)備的加持與公司實力的并存下應用情況，客戶的滿意度直線上升保護好。不少參會人員表示有機會的話下次還會參加。
領(lǐng)拓儀器精彩不斷表現，只要您有檢測需求特點，領(lǐng)拓儀器即可為您定制專項分析檢測解決方案，期待下一個會議我們再相會結論。
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