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閃爍體是一種當(dāng)被電離輻射激發(fā)之后會(huì)表現(xiàn)出發(fā)光特性的材料業務指導，是將高能轉(zhuǎn)換為可見(jiàn)光的一種典型光電轉(zhuǎn)換材料，可用于輻射探測(cè)和安全防護(hù)就此掀開。在醫(yī)學(xué)上長足發展，閃爍體是核醫(yī)學(xué)影像設(shè)備比如X光、CT等檢查設(shè)備的核心部件穩步前行。同時(shí)結構不合理，在行李安檢、集裝箱檢查逐步改善、大型工業(yè)設(shè)備無(wú)損探傷意見征詢、石油測(cè)井、放射性探測(cè)自動化裝置、環(huán)境監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域示範，閃爍體都發(fā)揮著不可替代的作用。

北京卓立漢光儀器有限公司擁有中國(guó)人民共和國(guó)環(huán)境部核準(zhǔn)的輻射安全許可證（證書(shū)編號(hào)：Q0121）有很大提升空間，可為用戶(hù)提供一系列安全可靠的X射線(xiàn)輻射發(fā)光多維測(cè)試解決方案提供了有力支撐。方案集成防護(hù)鉛箱為測(cè)試人員提供安全保障，輻射防護(hù)滿(mǎn)足國(guó)標(biāo)《X射線(xiàn)衍射儀和熒光分析儀衛(wèi)視防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)》（GBZ115-2023）要求前景。系統(tǒng)可進(jìn)行光譜測(cè)試功能進一步意見、成像測(cè)試及余輝測(cè)試，此外可以加載低溫恒溫器共享應用、輻射劑量表等測(cè)試附件進(jìn)行更多功能的拓展生產能力。

X射線(xiàn)成像

分辨率大于20pl/mm      手機(jī)充電頭成像   密碼狗成像  

穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)X射線(xiàn)輻射發(fā)光

CsI X射線(xiàn)輻射發(fā)光光譜   無(wú)機(jī)氧化物X射線(xiàn)輻射發(fā)光壽命曲線(xiàn)        

應(yīng)用案例盤(pán)點(diǎn)

（以下文章中X射線(xiàn)測(cè)試相關(guān)數(shù)據(jù)使用卓立漢光X射線(xiàn)輻射熒光樣品測(cè)試系統(tǒng)得到）

時(shí)間維度的多色演變體系

多色發(fā)光材料在多通道生物檢測(cè)標準、高密度信息存儲(chǔ)、多維度顯示以及多功能光電器件等領(lǐng)域具有重要的科學(xué)與應(yīng)用價(jià)值堅持好。中國(guó)計(jì)量大學(xué)光電學(xué)院徐時(shí)清教授/雷磊團(tuán)隊(duì)報(bào)道了兩種通用方法對(duì)時(shí)間維度的多色體系演變進(jìn)行調(diào)控即將展開。第一種是核@殼結(jié)構(gòu)的氟化物納米粒子，在受到X射線(xiàn)激發(fā)后特性，可形成時(shí)間依賴(lài)的余輝顏色演變過(guò)程傳承。另一種是核@殼@殼結(jié)構(gòu)的氟化物納米粒子，同時(shí)具備X射線(xiàn)激發(fā)余輝（XEA）建言直達、上轉(zhuǎn)換（UC）和下轉(zhuǎn)移（DS）的發(fā)光特點(diǎn)多種，能形成不同波長(zhǎng)激發(fā)條件下的時(shí)間顏色演變。

XEA材料在多維顯示器件中的潛在應(yīng)用

Nature Communications, volume 13, Article number: 5739 (2022)

柔性X射線(xiàn)探測(cè)器

柔性X射線(xiàn)探測(cè)器能夠用于高度彎曲目標(biāo)物的三維成像充分發揮，成為當(dāng)前研究熱點(diǎn)發展成就。稀土摻雜氟化物納米材料具有X射線(xiàn)激發(fā)多色余輝發(fā)光特征，適用于柔性X射線(xiàn)探測(cè)與延時(shí)三維(3D)成像應(yīng)用重要方式，且能夠避免實(shí)時(shí)X射線(xiàn)輻照產(chǎn)生的熒光信號(hào)干擾開展面對面。中國(guó)計(jì)量大學(xué)光電學(xué)院徐時(shí)清教授團(tuán)隊(duì)在低劑量柔性X射線(xiàn)成像技術(shù)領(lǐng)域取得重要進(jìn)展，團(tuán)隊(duì)創(chuàng)新性地設(shè)計(jì)了雙異質(zhì)核殼界面模式，不僅能夠抑制激活離子到表面缺陷的能量傳遞過(guò)程自動化，降低稀土激活離子無(wú)輻射弛豫幾率，還能夠有效降低界面Frenkel缺陷形成能高品質，促進(jìn)陷阱能級(jí)的形成并大幅增強(qiáng)余輝發(fā)光不折不扣。團(tuán)隊(duì)還研制出基于Y@Lu/Gd/Tb@Y納米晶的柔性薄膜X射線(xiàn)探測(cè)器件，彎曲幅度接近180度資源優勢，拉伸幅度大于200%, 在300-800nm范圍內(nèi)的光透過(guò)率大于90%高效利用。

X射線(xiàn)延時(shí)3D成像

Nature Communications, volume 15, Article number: 1140 (2024)

低劑量高分辨率X射線(xiàn)成像

鉛基鈣鈦礦納米晶體（如CsPbX3）因其低成本、低溫合成性和優(yōu)異的光電性能被視為潛在替代材料估算。然而講理論，鉛的毒性和材料本身的不穩(wěn)定性限制了其廣泛應(yīng)用。廣西大學(xué)物理科學(xué)與工程技術(shù)學(xué)院林濤博士團(tuán)隊(duì)研究人員探索采用采用無(wú)鉛的銅(I)鹵化物構(gòu)造新型閃爍體基礎上。與納米晶體相比各領域，單晶銅(I)鹵化物單晶在結(jié)構(gòu)缺陷密度低、發(fā)光光子散射效應(yīng)小等方面具有顯著優(yōu)勢(shì)保持競爭優勢，這對(duì)實(shí)現(xiàn)低劑量高分辨率X射線(xiàn)成像至關(guān)重要進行培訓。

無(wú)鉛鈣鈦礦閃爍體的X射線(xiàn)成像

J. Mater. Chem. C, 2024,12, 922-929