天瑞儀器EDX3600K X熒光光譜儀 zui大的亮點在于它大鈹窗超薄口的高分辨SDD探測器和自旋式的樣品腔的特點，產品通過了江蘇省計量科學研究院的檢測，并通過中國儀器儀表學會分析儀器分會組織的科技成果鑒定有效保障，技術達到*水平大數據。

　　X熒光光譜儀屬于*的分析檢測儀器，隨著半導體微電子技術和計算機技術的飛速發(fā)展講實踐，傳統的光學數字技術、熱學、電化學市場開拓、色譜措施、波譜類分析技術都已從經典的化學精密機械電子學結構、實驗室內人工操作應用模式要落實好，轉化成光緊密相關、機、電先進技術、算（計算機）一體化培訓、自動化的結構，并向智能化宣講手段、小型化分析、在線式及儀器聯用方向發(fā)展。天瑞公司在以已掌握的成熟的臺式X熒光光譜儀技術為基礎全面闡釋，結合國外相關的技術發(fā)展成果非常激烈，研制出具有自主知識產權的EDX 3600K型X熒光光譜儀。
　　
　　EDX 3600K X熒光光譜儀zui大的亮點在于它大鈹窗超薄口的高分辨SDD探測器和自旋式的樣品腔引人註目，產品通過了江蘇省計量科學研究院的檢測領域，并通過中國儀器儀表學會分析儀器分會組織的科技成果鑒定，技術達到*水平好宣講。
　　
　　應用領域：
　　
　　專為粉未冶煉行業(yè)研發(fā)的一款設備註入新的動力，主要應用在水泥冶煉、鋼鐵冶煉新產品、礦冶煉(銅礦去完善、鉛礦等)、鋁冶煉長遠所需、玻璃制造求索、耐火材料分析讓人糾結、各種粉未冶金分析行業(yè)、石油勘探錄井分析領域穩定發展。
　　
　　同時在地質基石之一、礦樣、冶金增持能力、稀土材料共同努力、環(huán)境監(jiān)測、有色金屬追求卓越、食品逐漸完善、農業(yè)等科研院所、大專院校和工礦企業(yè)中也得到廣泛應用合理需求。
　　
　　性能優(yōu)勢：
　　
　　1.超低能量分辨率是目前主流，輕元素檢測效果更佳
　　
　　使用大面積鈹窗電致冷SDD探測器，探測器分辨率zui低達到139eV高質量，各項指標優(yōu)于國家標準充分發揮。SDD探測器具有良好的能量線
　　
　　性、良好的能量分辨率管理，及良好的能譜特性設計，較高的峰背比；對Si覆蓋範圍、S優化程度、AI等輕元素的測試具有良好的分析精度。
　　
　　2. 測試精度更高實踐者，檢出限更低
　　
　∪〉妹黠@成效、賹I(yè)化的樣品腔設計，帶可調速的自旋樣品腔數據，能有效的測定輕元素和減少樣品均一性的影響，提高樣品的測試精度發揮。
　　
　★@著、诓捎贸〕婵盏臉悠非辉O計，保證測試時達到10Pa以下開放以來，使設備的測試范圍可從F元素起測試占，大大地提高測試范圍、輕元素檢出限和精度提供了有力支撐。
　　
　　3. 分析速度更快激發創作，從第1秒即可得到定性定量結果
　　
　　采用自主研發(fā)的數字多道技術，其zui大線性計數率可達100kcps進一步意見，可以更加快速的分析增幅最大，從第1秒就可以得出定性定量結果共享應用，
　　
　　設計成高計數率，大大提高了設備的穩(wěn)定性標準。
　　
　　4. 一鍵式智能化操作
　　
　　專業(yè)軟件示範推廣，*的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件，具有高靈敏度即將展開、測試時間短大幅增加、一鍵智能化操作，使操作簡易傳承，對操作人員限制小的特點等特點。
　　
　　5. 強大的自動化功能
　　
　　①自動化程度高多種，具有自動開蓋建設應用、自動切換準直器與濾光片等功能。
　　
　∪諠u深入、诓捎米詣臃€(wěn)譜裝置動力，保證了儀器工作的*性：利用解譜技術使譜峰分解，采用多參數的線性回歸方法可靠保障，使元素間的吸收自然條件、排斥效應得到明顯的降低。
　　
　　6. 強度校正法
　　
　　具有多種測試模式設置和無限數目模式的自由添加開展，內置強度校正方法互動互補，可校正幾何狀態(tài)不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。
　　
　　7. 完善的光路系統
　　
　　自主研發(fā)的光路系統意向，光程更短意料之外，光路損失更少，激發(fā)效果更佳形式。
　　
　　8. 三重安全防護功能
　　
　　三重安全防護功能置之不顧，自動感應，沒有樣品時儀器不工作數字化，無射線泄漏方便；加厚防護測試壁；配送測試防護安全罩各領域。
　　
　　9. 安全警示系統
　　
　　警告指示系統應用領域，通電時綠色指示燈亮，測試時黃色輻射指示燈閃爍進行培訓，防止誤操作發展機遇。
　　
　　儀器配置：
　　
　　鈹窗電制冷SDD探測器
　　
　　自旋式樣品腔
　　
　　高效超薄窗X光管
　　
　　信噪比增強器SNE
　　
　　超近光路增強系統
　　
　　可自動開啟的測試蓋
　　
　　自動切換型準直器和濾光片
　　
　　真空腔體
　　
　　自動穩(wěn)譜裝置
　　
　　90mm×70mm的液晶屏
　　
　　的數字多道技術
　　
　　多變量非線性回歸程序
　　
　　相互獨立的基體效應校正模型
　　
　　技術參數：
　　
　　型號：EDX3600K
　　
　　X射線源：50KV、1mA
　　
　　樣品腔體積：Φ40.5mm×39.5mm
　　
　　分析方法：能量色散X熒光分析方法
　　
　　測量元素范圍：原子序數為9～92[氟（F）到鈾（U）]之間的元素均可測量
　　
　　檢測元素：同時分析元素達三十多種，可根據客戶需要增加元素
　　
　　含量范圍：ppm～99.99%
　　
　　檢測時間：10秒以上
　　
　　檢測對象：標準粉未壓片及可以放入標準樣品杯的固體全技術方案、液體及粉末
　　
　　探測器及分辨率：超大超薄的SDD探測器分享，分辨率 為144±5eV,可選配極速探測器zui低至125eV
　　
　　激發(fā)源：銠靶或鎢靶光管根據客戶需求可供選擇
　　
　　攝像頭：高清攝像頭
　　
　　測井環(huán)境：超真空系統，10秒可抽到10Pa以下分析，大氣表示、氦氣均可以
　　
　　準直器和濾光片：四組準直器（7、5非常激烈、3競爭力所在、1mm），6種濾光片組合自動切換
　　
　　自旋裝置：可調速的自旋裝置
　　
　　檢出限：對樣品中的大多數元素來說領域，zui低檢出限達5～500ppm
　　
　　真空系統：超真空系統溝通機製，10秒可到10Pa
　　
　　數據傳輸：數字多道技術，快速分析註入新的動力，高計數率
　　
　　測試臺：360°電動旋轉式
　　
　　保護系統：樣品腔為電動控制顯示，上蓋打開時測試已完成
　　
　　樣品放置：*的樣品杯設計，自帶壓環(huán)效率和安，可防止樣品晃動
　　
　　數字多道技術：計數率>50kcps設計能力，有效計數率高至500kcps
　　
　　外形尺寸及重量：669mm×540mm×874mm，90KG
　　
　　操作環(huán)境濕度：≤90%
　　
　　操作環(huán)境溫度：15℃～30℃
　　
　　軟件優(yōu)勢：
　　
　　采用公司的能譜EDXRF軟件深入開展，*的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件更為一致，具有高靈敏度、測試時間短技術的開發、一鍵智能化操作研究與應用，操作簡易，對操作人員限制小的特點更高效。
　　
　　具有多種測試模式設置和無限數目模式自由添加全面協議，內置強度校正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差具體而言。
　　
　　全新的軟件界面和內核工具，采用FP和EC軟件組合的方法，應用面更加廣泛發展契機。