Dektak150型是Veeco公司2007年正式推出的型探針式表面輪廓儀產(chǎn)品節點，主要應(yīng)用于薄膜厚度測(cè)量、樣品表面形貌測(cè)量落地生根、薄膜應(yīng)力測(cè)量的特點、樣品表面粗糙度/波紋度測(cè)量、以及樣品表面三維形貌測(cè)量等眾多領(lǐng)域有效保障。

      Dektak 150集四十余年的技術(shù)積累和創(chuàng)新于一身大數據，為滿足用戶不同應(yīng)用方向的需要提供了多種可選配置。堅(jiān)固的鋁質(zhì)材料鑄成的機(jī)身框架以及支撐部件顯著提高了儀器的重復(fù)精度講實踐，并降低了地板噪音對(duì)測(cè)量的干擾數字技術。基于Windows XP的Dektak隨機(jī)配備軟件系統(tǒng)界面友好市場開拓，為用戶提供了完善的分析功能措施。“一鍵式”操作方式使得測(cè)量工作簡(jiǎn)單易行。通過選配三維成像附件套裝還可以極大地?cái)U(kuò)充儀器的功能要落實好。

主要特點(diǎn)：

1. 臺(tái)階高度測(cè)量的高重復(fù)性
2. 基于精密加工光學(xué)參考平面的樣品臺(tái)緊密相關，確保在長(zhǎng)距離掃描中基線的穩(wěn)定性
3. 出色的易用性、易維護(hù)性
4. 樣品適用性
5. 高分辨率的粗糙度測(cè)量
6. 功能強(qiáng)大的軟件分析系統(tǒng)
7. 三維表面形貌測(cè)量的功能可升級(jí)性
8. 廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域