電鍍鍍層光譜分析儀
鍍層檢測(cè)：
2.1多樣性、常見金屬鍍層有：
鍍層 基體 | Ni | Ni-P | Ti | Cu | Sn | Sn-Pb | Zn | Cr | Au | Zn-Ni | Ag | Pd | Rh |
Al | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
Cu | ● | ● | ● |
| ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
Zn | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
| ● | ● | ● | ● | ● | ● |
Fe | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
SUS | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
2.2發揮效力、單層厚度范圍：
金鍍層0－8um,
鉻鍍層0-15um,
其余一般為0-30um以內(nèi)，
可小測(cè)量達(dá)0.001um明顯。
2.3安全鏈、多層厚度范圍
Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um Ni分析厚度:0-30um
Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um Ni分析厚度:0-30um
Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um Ni分析厚度:0-30um
2.4、鍍層層數(shù)為1-6層
2.5創新為先、鍍層精度相對(duì)差值一般<5%真正做到。
2.6、鍍層成分含量：Sn-Pb合金成分分析創新延展；Zn-Ni合金成分分析強化意識。
單層分析精度，以Ni舉例：（相對(duì)差值）
Ni層厚度(um) | 保證精度 |
<1.0um | <5% |
1.0-5.0um | <3% |
5.0-10um | <3% |
10-20um | <3% |
>20.0um | <3% |
報(bào)告打踊厩闆r。?/span>
可以PDF現場，Excel格式輸出報(bào)告，歷史數(shù)據(jù)查詢方便
安全使用,維護(hù)與保養(yǎng)
6.1力量、由于儀器非常精密我有所應，未經(jīng)允許情況請(qǐng)不要打開儀器外殼，不要對(duì)X射線源和探測(cè)器進(jìn)行改變深入實施，由于用戶自身原因造成儀器損壞本公司將不負(fù)責(zé)任至關重要。
6.2、儀器安裝一定要平穩(wěn)功能，儀器后面離墻距離不得小于30厘米應用的因素之一，必須使用標(biāo)準(zhǔn)的220V交流電解決，電壓不穩(wěn)情況要配備穩(wěn)壓電源，插座必須接地良好善於監督，由用戶電源不合乎要求造成損失由用戶負(fù)責(zé)集成技術。
6.3就能壓製、請(qǐng)不要用濕的手觸摸電源部分更合理，帶水的手也不要碰儀器外殼以免發(fā)生觸電。
6.4更優美、進(jìn)行測(cè)量時(shí)各方面，因?yàn)楦唠妷毫髦罼射線源，儀器運(yùn)行時(shí)成效與經驗，不要嘗試打開或觸摸蓋子適應性。由于高電壓源必須通過自動(dòng)運(yùn)行或者遵循用戶指南中止。
6.5稍有不慎、儀器環(huán)境要求：儀器使用環(huán)境需清潔重要作用，溫度適宜15℃－30℃，濕度小于80%,電源：AC: 220V ±5V最為顯著。
以上細(xì)節(jié)均有可能造成無法預(yù)測(cè)后果尤為突出，買方應(yīng)予以基本遵守。
驗(yàn)收和保證值
儀器的性能指標(biāo)所引用的術(shù)語及定義都是根據(jù)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)環境， 所有誤差大都被表示成測(cè)量厚度的百分比或者絕對(duì)差值. 除特別說明外,所有數(shù)據(jù)指標(biāo)都在西格瑪?shù)目尚艩顟B(tài)下空間載體。
性能測(cè)試所用的標(biāo)樣片都是國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)樣品,在相同的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試.這些樣本必須受到保護(hù),以免機(jī)械或化學(xué)的改變,這些將影響到X射線的測(cè)量。
性能測(cè)試要求環(huán)境溫度范圍在 15℃-30℃之間相對簡便。
環(huán)境相對(duì)濕度 ≤80％
電 源：AC: 220V ±5V
性能主要測(cè)試精度和重復(fù)性重要組成部分；不能使測(cè)厚儀在測(cè)量過程中產(chǎn)生“晃動(dòng)”
4.1測(cè)量精度
1）精度(單層)：
測(cè)厚儀的檢測(cè)精度表
Ni層厚度(um) | 保證精度 |
<1.0um | <5% |
1.0-5.0um | <3% |
5.0-10um | <3% |
10-20um | <3% |
>20.0um | <3% |
本儀器產(chǎn)品特點(diǎn)：
采用了Si-Pin探測(cè)器，性能穩(wěn)定合作，重復(fù)性和重現(xiàn)性好勃勃生機。
在客戶遠(yuǎn)端請(qǐng)求下，我司技術(shù)人員可以遠(yuǎn)程協(xié)助用戶解決常見操作問題（需連接因特網(wǎng)）極致用戶體驗。
可進(jìn)行多達(dá)5層的多鍍層檢測(cè)廣度和深度。
無需象采用了正比計(jì)數(shù)器（PC比例器）的儀器那樣，需要標(biāo)準(zhǔn)樣頻繁較準(zhǔn)引領作用。
全自動(dòng)操作平臺(tái)科技實力，可以連續(xù)多點(diǎn)檢測(cè)，省時(shí)省力建設。
操作簡(jiǎn)單在此基礎上，界面友好，數(shù)據(jù)直觀顯示前來體驗。
雙重聯(lián)動(dòng)屏蔽裝置自主研發，做到了X射線零輻射確定性，讓使用者更安全
電鍍鍍層光譜分析儀
