檢測(cè)合金材料成份儀器
我公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長(zhǎng)色散型）（XRF）意料之外、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP）文化價值、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計(jì)（AAS）置之不顧、光電直讀光譜儀（OES）不斷完善、氣相色譜儀（GC）、液相色譜儀（LC）方便、能譜儀（EDS）基礎上、頻紅外碳硫分析儀（CS Analyzer）、礦漿載流在線采樣儀（OSA）等應用領域。產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域有電子電器保持競爭優勢、五金塑膠、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測(cè)等）發展機遇、玩具安全（EN71-3等）,F963中規(guī)定的有害物質(zhì)：鉛Pb完成的事情、砷Ａs、銻Sb穩定、鋇Ｂa改造層面、鎘Cd、鉻Cr優勢與挑戰、Ｈg經驗分享、硒Se以及氯等鹵族元素、建材（水泥趨勢、玻璃有力扭轉、陶瓷等）、合金（銅合金設備製造、鋁合金發展需要、鎂合金等）攻堅克難、冶金（鋼鐵、稀土顯示、鉬精礦雙向互動、其它黑色及有色金屬等）、地質(zhì)采礦（各種礦石品位檢測(cè)設(shè)備）設計能力、塑料（無(wú)鹵測(cè)試等）品牌、石油化工、嶺土更為一致、煤炭等形式、食品、空氣研究與應用、水質(zhì)飛躍、土壤、全面協議、商品檢驗(yàn)重要部署、質(zhì)量檢驗(yàn)、人體微量元素檢驗(yàn)等等工具≈腔叟c合力？傊N售的儀器設(shè)備應(yīng)用于元素分析，化合物測(cè)試重要的角色，電鍍鍍層厚度檢測(cè)開放要求。
檢測(cè)鋼鐵元素成分含量（含各種合金，不銹鋼等）也逐步提升，簡(jiǎn)單方便的是X熒光光譜儀記得牢，精度更高穩(wěn)定性更好的是實(shí)驗(yàn)室使用的專業(yè)測(cè)試鋼材成分設(shè)備的是OES光電直讀光譜儀，介紹如下：
X射線熒光光譜分析儀：
X射線熒光光譜分析儀 應(yīng)對(duì)有害元素檢測(cè)不可缺少、油品分析蓬勃發展、礦石分析、合金分析積極回應、電鍍鍍層重要性、環(huán)境分析的產(chǎn)品，目前正服務(wù)于各大重要部門多種場景。
儀器技術(shù)性能：
真正實(shí)現(xiàn)在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行無(wú)損,快速,準(zhǔn)確的檢測(cè),直接顯示元素的百分比含量多元化服務體系。
只需將合金分析儀直接接觸待測(cè)合金表面，無(wú)須長(zhǎng)時(shí)間等待即可現(xiàn)場(chǎng)確定合金等級(jí)擴大公共數據。
被檢測(cè)的樣品的對(duì)象可以是合金塊深度、合金片、合金線、合金渣開拓創新、合金粉持續發展。
不規(guī)則或小型樣品的補(bǔ)償性測(cè)試方法能檢測(cè)很小或很少的樣品,如直徑為0.04mm的細(xì)絲也能立即辨認(rèn)。
可延伸的探頭設(shè)計(jì)能對(duì)管道內(nèi)部促進善治、焊縫,等位置進(jìn)行檢測(cè)擴大。
可檢測(cè)溫度高達(dá)450℃的高溫材料。
可現(xiàn)場(chǎng)在庫(kù)中添加,編輯,刪除合*牌號(hào)發揮效力。
全球快的分析速度, 僅需2秒鐘就可識(shí)別合金元素新格局。
用戶化windows CE 6.0系統(tǒng)驅(qū)動(dòng)的微電腦顯示系統(tǒng)使所有功能皆可現(xiàn)場(chǎng)完成，用戶化windows CE僅保留有最基本的windows與Delta系統(tǒng)有關(guān)的性能安全鏈，使程序更具靈活性顯示。
無(wú)需借助電腦，可在現(xiàn)場(chǎng)隨意真正做到，查看科普活動，放大相關(guān)元素的光譜圖。
防塵,防霧,防水：一體機(jī)設(shè)計(jì)強化意識，軟膠與塑膠部件凸槽 & 凹槽 構(gòu)造設(shè)計(jì)充足，使儀器具有很好的三防性能，可承受惡劣的工作環(huán)境,大霧,下雨,塵土飛揚(yáng)等場(chǎng)地也能正常工作的積極性。
腰帶、槍套生產效率、肩帶能將儀器牢牢地固定在你的腰部使命責任，可在野外活動(dòng)自如。
更高的檢測(cè)精度使用，多次測(cè)試的平均值統(tǒng)計(jì)功能可有效地提高儀器的檢測(cè)精度合規意識。
超大的圖標(biāo)顯示，菜單式驅(qū)動(dòng)有效性，微電腦WINDOWS系統(tǒng)使儀器操作更加簡(jiǎn)便創新內容。
電磁干擾被屏蔽，即使在靠近手機(jī)或雙向無(wú)線通信裝置處也能正常工作廣泛關註。
儀器元素分析范圍：
可分析從從12號(hào)元素Mg到94號(hào)元素PU之間的所有合金善於監督。
儀器的分析模式與元素種類 |
分析模式 | 分析元素 |
元素分析范圍 | 從22號(hào)元素鈦到94號(hào)元素PU范圍內(nèi)的31種基本元素，在以上范圍內(nèi)就能壓製，可以根據(jù)客戶需要更換其他元素更合理。 |
Alloy Beam1模式 | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb等21元素。 |
Alloy Beam2模式 | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb PLUS Mg, Al, Si, P等25元素 |
儀器技術(shù)規(guī)格：
項(xiàng)目 | 分析儀器 |
環(huán)境要求 | 環(huán)境濕度0~95%更優美；環(huán)境工作溫度-20℃ ~50℃各方面；橙黃、黑色成效與經驗、銀白色相間 |
激發(fā)源 | 大功率微型直板電子X射線管適應性，內(nèi)置15kV~35kV多段可選擇的電壓堅實基礎；無(wú)高壓電纜、無(wú)射頻噪聲重要作用、更好的X射線屏蔽等地、更好的散熱。 |
射線管靶材 | Rh完成的事情、Au靶 |
X射線探測(cè)器 | 超大型SDD硅漂移探測(cè)器 |
冷卻系統(tǒng) | 采用了Peltier恒溫冷卻系統(tǒng)物聯與互聯，控測(cè)器在-35℃下工作，保證儀器的檢測(cè)精度改造層面，和不受外界溫度的影響 |
濾波器 | 八個(gè)濾光片可自動(dòng)切換 |
電壓供給、電流 | 電壓15~35kv,電流200ua |
光譜束 | 兩個(gè)光束段，不同的元素采用不同的電壓與電流經驗分享，產(chǎn)生分析效果 |
主機(jī)供電系統(tǒng) | 2個(gè)鋰電池,110v/220通用充電器, 充電器適配器解決方案，智能接駁座 |
智能接駁座 | 可對(duì)額外電池充電、儀器內(nèi)置電池同時(shí)充電并顯示充電進(jìn)度系列，接駁座能連接電腦交換數(shù)據(jù)作用，可讓儀器即時(shí)標(biāo)準(zhǔn)化，儀器隨時(shí)待命狀態(tài) |
開機(jī)換電 | 儀器即使在開機(jī)狀態(tài)下也可更換電池而并不需要關(guān)機(jī)慢體驗，時(shí)間可達(dá)30秒 |
標(biāo)準(zhǔn)化 | 儀器開機(jī)并不需要標(biāo)準(zhǔn)化著力增加，可以直接測(cè)試，標(biāo)準(zhǔn)化僅僅是可選項(xiàng) |
平衡性 | 儀器具有很好的平衡性科技實力，在測(cè)試時(shí)能立于工作臺(tái)上處理，無(wú)需手扶，一鍵式按鈕設(shè)計(jì)在此基礎上，即使長(zhǎng)時(shí)間操作也無(wú)疲勞感 |
散熱性 | 超過1/3的機(jī)體采用鋁合金外殼設(shè)計(jì)助力各行，儀器頂部有專用的槽式散熱裝置，整個(gè)體系使散熱非常有效自主研發，延長(zhǎng)機(jī)器壽命, X射線分析儀工作更加更穩(wěn)定確定性，從而故障率極低 |
顯示器 | 整機(jī)一體化設(shè)計(jì)，工業(yè)級(jí)高分辨率TFT QVGA卡西歐 BlanView® 觸摸顯示彩屏損耗，帶LED背光講故事；像素240×320 |
顯示器固定方式 | 一體機(jī)設(shè)計(jì),整機(jī)連體構(gòu)造，PDA不可拆卸,可防塵,防霧,防水,故障低 |
顯示器可視性 | 顯示器無(wú)LCD高原反應(yīng)積極影響，室內(nèi)低光源與強(qiáng)光環(huán)境下也能有優(yōu)異可視性自動化方案，能耗低，比傳統(tǒng)低一半白光顯示增加各種環(huán)境的顯示性 |
數(shù)據(jù)顯示 | 百分比（%）顯示元素含量越來越重要，元素顯示順序可按能量線上線下、濃度值、用戶自定義等方式排序,可統(tǒng)計(jì)多次測(cè)試的平均值,可接臺(tái)式電腦顯示;儀器在測(cè)試過程中同步動(dòng)態(tài)顯示化學(xué)成份 |
數(shù)據(jù)存儲(chǔ) | ROM128M、RAM128M數據顯示、2G SD卡高質量，可存儲(chǔ)205000組數(shù)據(jù)與光譜 |
數(shù)據(jù)傳輸 | USB電纜、無(wú)線藍(lán)牙進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸記得牢，文件可采用TXT,EXCEL格式輸出註入了新的力量。 |
處理器CPU | 532MHz CPU 、Freescal更多可能性，ARM1136-MX31處理器去創新，浮點(diǎn)運(yùn)算方式，速度大幅提高 |
系統(tǒng)CPU外設(shè) | 采用USB總線, I2C,GPIO, 藍(lán)牙, 加速器緊迫性，實(shí)時(shí)的時(shí)鐘芯片結構，微型SD 存儲(chǔ)卡 (可存儲(chǔ)2GB 數(shù)據(jù))，GPIO 條帶連接到扳機(jī)和PSM |
操作系統(tǒng) | 用戶化 windows CE 6.0系統(tǒng) |
Alloy Beam1模式 | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb等21元素 |
Alloy Beam2模式 | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb PLUS Mg, Al, Si, P等25元素 |
合金建模方式 | 基本參數(shù)法聽得懂，儀器在分析合金前不需要預(yù)先知道合金種類應用優勢，實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)分析 |
合金種類 | 鐵合金系列、鎳基合金系列全方位、鈷基合金系列高效節能、鈦基合金系列、銅基系列大局、6. 高溫合金新創新即將到來、鉬鎢合金、鋁合金有序推進、混雜合金系列 |
合*牌號(hào) | 內(nèi)置合*牌號(hào)351種創造性，用戶可自定義300種合*牌號(hào)，能同時(shí)分析的合金651種道路，能分析的合金高達(dá)萬(wàn)種， |
小樣品測(cè)試 | 不規(guī)則或小型樣品的補(bǔ)償性測(cè)試方法能檢測(cè)很小或很少的樣品,如直徑為0.04mm的細(xì)絲也能立即辨認(rèn) |
鋁合金 | 能測(cè)試Mg, Al, Si, P等元素,能識(shí)別全系列的39種鋁合*牌號(hào) |
火花直讀光譜儀器簡(jiǎn)介：
直讀光譜分析主要特點(diǎn)：
1真諦所在、可測(cè)定包括痕量碳（C）指導，磷（P）,硫（S）元素,適用于多種金屬基體，如：鐵基充分，鋁基進一步完善，銅基，鎳基競爭力，鉻基調整推進，鈦基，鎂基機製性梗阻，鋅基機製，錫基和鉛基。全譜技術(shù)覆蓋了全元素分析范圍，可根據(jù)客戶需要選擇通道元素探討；
2不負眾望、分析速度快捷，20秒內(nèi)測(cè)完所有通道的元素成分調解製度。針對(duì)不同的分析材料精準調控，通過設(shè)置預(yù)燃時(shí)間及標(biāo)線，使儀器用短的時(shí)間達(dá)到優(yōu)的分析效果應用的因素之一；
3解決、光學(xué)系統(tǒng)采用真空恒溫光室， 激發(fā)時(shí)產(chǎn)生的弧焰由透鏡直接導(dǎo)入真空光室開展試點，實(shí)現(xiàn)光路直通,消除了光路損耗攜手共進，提高檢出限，測(cè)定結(jié)果準(zhǔn)確進一步，重現(xiàn)性及長(zhǎng)期穩(wěn)定性大部分；
4、特殊的光室結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)實際需求，使真空室容積更薪鉀Q方案。?/span>
5善謀新篇、自動(dòng)光路校準(zhǔn)增產，光學(xué)系統(tǒng)自動(dòng)進(jìn)行譜線掃描，確保接收的正確性方法，免除繁瑣的波峰掃描工作行動力。儀器自動(dòng)識(shí)別特定譜線，與原存儲(chǔ)線進(jìn)行對(duì)比切實把製度，確定漂移位置保供，找出分析線當(dāng)前的像素位置進(jìn)行測(cè)定；
6進行部署、開放式的電極架設(shè)計(jì)責任，可以調(diào)整的樣品夾，便于各種形狀和尺寸的樣品分析保護好；
7組建、工作曲線采用國(guó)際標(biāo)樣，預(yù)做工作曲線特點，可根據(jù)需要延伸及擴(kuò)展范圍深刻變革，每條曲線由多達(dá)幾十塊標(biāo)樣激發(fā)生成，自動(dòng)扣除干擾和諧共生；
8質生產力、HEPS數(shù)字化固態(tài)光源適應性強，適應(yīng)各種不同材料 ；
9處理、固態(tài)吸附阱建設，防止油氣對(duì)光室的污染，提高長(zhǎng)期運(yùn)行穩(wěn)定性開展研究；
10姿勢、銅火花臺(tái)底座，提高散熱性及堅(jiān)固性能首要任務；
11綠色化、合理的氬氣氣路設(shè)計(jì)，使樣品激發(fā)時(shí)氬氣沖洗時(shí)間縮短發展，為用戶節(jié)省氬氣保持穩定；
12、采用鎢材料電極面向，電極使用壽命更長(zhǎng)支撐作用，并設(shè)計(jì)了電極自吹掃功能，清潔電極更加容易建設項目；
13最為突出、高性能DSP及ARM處理器，具有高速數(shù)據(jù)采集及控制功能并自動(dòng)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)光室溫度相結合、真空度高效化、氬氣壓力、光源為產業發展、激發(fā)室等模塊 的運(yùn)行狀況範圍和領域；
14、儀器與計(jì)算機(jī)之間采用以太網(wǎng)連接各項要求，抗干擾性能好更高要求，外部計(jì)算機(jī)升級(jí)與儀器配置無(wú)關(guān)，使儀器具有更好的適用性新技術；
15學習、核心器件全部，保證了儀器優(yōu)秀品質(zhì)聽得懂。
儀器操作軟件分析功能
強(qiáng)大的分析功能 | 全部或部分工作曲線標(biāo)準(zhǔn)化，運(yùn)用單點(diǎn)或兩點(diǎn)校準(zhǔn)方法類型校準(zhǔn)功能 校準(zhǔn)和分析時(shí)進(jìn)行重現(xiàn)性檢查添加新校準(zhǔn)曲線 在現(xiàn)有分析曲線上添加新標(biāo)樣內(nèi)標(biāo)校準(zhǔn)功能高質量發展，基體校準(zhǔn)功能分析譜線自動(dòng)切換 分析結(jié)果超分析曲線范圍全方位，自動(dòng)進(jìn)行推算及標(biāo)識(shí) |
豐富的數(shù)據(jù)輸出形式 | 用戶自定義需檢測(cè)元素及顯示順序 用戶自定義需檢測(cè)/打印/存儲(chǔ)的元素種類 用戶自定義需檢測(cè)/打印/存儲(chǔ)的小數(shù)點(diǎn)數(shù)位用戶自定義樣品名稱 可通過物質(zhì)含量形式輸出質(zhì)量百分比及多條相關(guān)譜線質(zhì)量百分比分析結(jié)果 可用光強(qiáng)形式輸出強(qiáng)度, 系數(shù)校準(zhǔn)強(qiáng)度系數(shù),修正校準(zhǔn)強(qiáng)度系數(shù)分析結(jié)果 可計(jì)算任意激發(fā)次數(shù)測(cè)量結(jié)果的均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差及相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差 |
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及打印功能 | 通過系統(tǒng)自帶數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行存儲(chǔ)數(shù)據(jù)可存儲(chǔ)為多種數(shù)據(jù)格式 數(shù)據(jù)可存儲(chǔ)為單次測(cè)量數(shù)據(jù)影響力範圍，和/或多次測(cè)試數(shù)據(jù)之平均值可存儲(chǔ)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù) 可人工或自動(dòng)進(jìn)行存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的轉(zhuǎn)存 可打印單次測(cè)量數(shù)據(jù)大局，和/或多次測(cè)試數(shù)據(jù)之平均值可打印統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù) 可人工或自動(dòng)打印所有的存儲(chǔ)數(shù)據(jù) |
儀器自帶診斷功能 | 氬氣氣壓監(jiān)視器 真空狀態(tài)監(jiān)視器 自動(dòng)波譜漂移控制 儀器標(biāo)準(zhǔn)化程序及錯(cuò)誤信息日志 可顯示所有儀器存儲(chǔ)完整譜圖數(shù)據(jù)并與現(xiàn)有測(cè)試譜圖進(jìn)行比較 |
檢測(cè)合金材料成份儀器
