X-RAY 5000測厚儀采用模塊化設(shè)計合理需求，可輕松集成到生產(chǎn)線中是目前主流。例如，當(dāng)必須測量大尺寸底材（如錫板）上的鍍層時高質量，X-RAY 5000 堪稱理想解決方案充分發揮。根據(jù)底材和鍍層材料的不同，客戶可按需求選配X射線源管理、探測器以及基本濾片設計。

應(yīng)用：

涂層厚度測量

1、測量太陽能行業(yè)中 CIGS基礎、CIS提供堅實支撐、CdTe 以及 CdS鍍層的厚度

2還不大、金屬帶材高產、金屬箔以及塑料箔上厚度僅為幾微米的鍍層

材料分析

1、測量光伏行業(yè)中CIGS發揮作用、CIS良好、CdTe 以及 CdS鍍層的成分

2、連續(xù)生產(chǎn)過程中的金屬鍍層

3銘記囑托、濺射鍍和電鍍生產(chǎn)中的過程監(jiān)控

特性：

• 與生產(chǎn)系統(tǒng)連接后引領，可在運行的生產(chǎn)過程中持續(xù)測量
• 適用廣泛：可用于真空或大氣環(huán)境，樣品表面溫度高可達 400°C
• 特別堅固的設(shè)計和結(jié)構(gòu)開放以來，在惡劣條件下也可持續(xù)獲得準(zhǔn)確的測量結(jié)果
• 非常適用于對具有大尺寸表面的產(chǎn)品進行鍍層厚度測量與材料分析