紫外線含量檢測(cè)儀
紫外線含量檢測(cè)儀基于SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片顯著，基于SMT貼片技術(shù)快速增長，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，紫外線含量檢測(cè)儀的外殼為流線型設(shè)計(jì)性能，探測(cè)器經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的光譜及角度特性校正初步建立，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)供給。紫外線含量檢測(cè)儀集測(cè)量紫外線含量的方法、照度和紫外輻照度三種功能于一體，可應(yīng)用于圖書(shū)進行探討、檔案落到實處、文物等部門(mén)對(duì)照明光源中紫外線含量的檢測(cè)工作。
紫外線含量檢測(cè)儀的產(chǎn)品特點(diǎn):
1.光譜及角度特性經(jīng)嚴(yán)格校正
2.數(shù)字液晶顯示最新，帶背光
3.手動(dòng)/自動(dòng)量程切換
4.數(shù)字輸出接口（USB冗余供電）
5.低電量提醒
6.自動(dòng)延時(shí)關(guān)機(jī)
7.有數(shù)字保持
8.輕觸按鍵操作技術創新，蜂鳴提示
紫外線含量檢測(cè)儀的主要技術(shù)指標(biāo)：
照度：
測(cè)量范圍：( 0.1~199.9×103 ) lx
相對(duì)示值誤差：±4％
V (λ)匹配誤差：f1 ≤6%
響應(yīng)時(shí)間：＜ 1s
非線性處理方法、換擋、疲勞特性等誤差：符合國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程對(duì)上等照度計(jì)規(guī)定的性能指標(biāo)持續向好。
紫外輻照度：
波長(zhǎng)范圍及峰值波長(zhǎng)：λ：(315~400)nm習慣；λp = 365nm
輻照度測(cè)量范圍：(0.1~199.9×103) mW/m2
帶外區(qū)雜光：小于0.2％
相對(duì)示值誤差：±10％
響應(yīng)時(shí)間：＜1s
紫外線含量：
測(cè)量范圍：(0.1~9999) mW/lm
相對(duì)示值誤差：±12％
響應(yīng)時(shí)間：＜3s
使用環(huán)境：溫度 (0~40)℃；濕度＜85％RH
尺寸和重量：160mm×78mm×43mm進展情況；0.2kg
電源：常規(guī)使用6F22型9V積層電池一只的積極性，整機(jī)功耗 ＜0.2VA
