1足了準備、產品簡介
UHC500B超聲波探傷儀是一款便攜式、全數字式超聲波探傷儀著力提升，能夠快速便捷深刻內涵、無損傷傳遞、準確地進行工件內部多種缺陷（裂紋、夾雜深入闡釋、氣孔等）的檢測相關性、定位、評估和診斷物聯與互聯。既可以用于實驗室最深厚的底氣，也可以用于工程現(xiàn)場。本儀器能夠廣泛地應用在制造業(yè)振奮起來、鋼鐵冶金業(yè)品質、金屬加工業(yè)、化工業(yè)等需要缺陷檢測和質量控制的領域深入各系統，也應用于航空航天解決問題、鐵路交通、鍋爐壓力容器等領域的在役安全檢查與壽命評估作用。
2相互配合、功能特色
探傷標準：內置各行業(yè)常用探傷標準，直接調用著力增加，方便智能化、快捷；
焊縫圖示：可設置焊縫形態(tài)參數處理，探傷中直觀顯示焊縫圖和缺陷在焊縫中的位置合作；
自動校準：探頭零點和探頭角度（K值）自動校準功能；聲速自動測量功能助力各業；
波峰記憶：實時檢索缺陷峰值波極致用戶體驗，記錄缺陷大值；
缺陷定位：實時顯示缺陷水平應用、深度（垂直）建議、聲程位置；
缺陷定量：缺陷當量dB值實時顯示相貫通；
缺陷定性：通過回波包絡波形不斷發展，方便人工經驗判斷；
曲面修正：用于曲面工件探傷自動化方案，可實時顯示缺陷周向位置緊密協作；
DAC/AVG：曲線自動生成，取樣點不受限制線上線下，并可進行補償與修正發揮重要作用。曲線隨增
益自動浮動、隨聲程自動擴展數據顯示、隨延時自動移動高質量。能顯示任意孔徑
的AVG曲線也逐步提升；
AWS D1.1: 美國焊接學會標準，為各類AWS焊縫檢測應用提供一個動態(tài)反射體“缺陷定級”延伸≌J為？杀苊馐止び嬎悖岣邫z測效率新趨勢；
裂紋測高：利用端點衍射波自動測量反應能力、計算裂紋高度；
門內展寬：放大回波細節(jié)學習，便于回波分析結構重塑；
連續(xù)記錄：實時記錄波形，存儲新的力量、回放，支持100個錄像文件便利性，錄像總時長為15小時以上全面展示；
波形凍結：凍結屏幕上顯示的波形，便于缺陷分析深刻認識；
回波編碼：以不同顏色顯示1~6次回波顯示區(qū)核心技術，便于判斷缺陷位置；
B型掃描：實時掃查主動性、橫截面顯示創造性，可顯示工件缺陷形狀，使探測結果更直觀道路。
3 技術參數
檢測范圍： (0~9999)mm規模設備；
工作頻率： (0.2~20)MHz；
顯示分辨率：640*480指導；
聲速范圍： (1000~15000)m/s競爭力；
動態(tài)范圍： ≥36dB；
垂直線性誤差：≤2.5%進一步完善；
水平線性誤差：≤0.1%集聚；
分辨力：>40dB(5P14)；
靈敏度余量：>65dB(深200mmФ2平底孔)調整推進；
數字抑制： (0~80)%狀況，不影響線性與增益；
電噪聲電平：≤8%機製；
探頭類型：直探頭全過程、斜探頭、雙晶探頭參與水平、穿透探頭產業；
閘門：進波門滿意度、失波門；單閘門讀數可持續、雙閘門讀數主要抓手；
報警：蜂鳴報警，LED燈報警構建；
脈沖幅度：200V創新科技、300V、400V共創輝煌、500V具有重要意義、600V分級選擇；
脈沖寬度： 在(0.1~0.5)µs范圍內連續(xù)調節(jié)大部分，以匹配不同頻率的探頭強大的功能；
探頭阻尼：68Ω、100Ω解決方案、150Ω優勢、500Ω可選；
硬件實時采樣：高分辨率10位AD轉換器增產，采樣速度160MHz便利性，波形高度保真；
檢波方式： 正半波行動力、負半波提供有力支撐、全波、射頻檢波保供；
濾波頻帶：（0.2~20）MHz自行開發，根據探頭頻率全自動匹配，無需手動設置責任；
電源：直流（DC）9V品質；鋰電池連續(xù)工作8小時以上；
通訊接口：USB2.0高速通訊傳輸接口深入各系統，支持U盤模式和數據連結模式解決問題；
數據存儲：儀器內置海量存儲器，支持1000組探傷參數通道作用，可存儲10000幅探傷回波信號及參數相互配合，實現(xiàn)存儲、讀出及通過USB接口傳輸方案；
外型尺寸：263×170×61(mm)關鍵技術；
環(huán)境溫濕度： (-10~50)℃；(20~95)%RH。
注：以上指標是在探頭頻率為2.5MHz技術研究、檢波方式為全波的情況下所測得重要的。
4 儀器配置
| 配置 | 名稱 | 數量 | 單位 | 備注 |
標準
配置 | 儀器主機 | 1 | 臺 | |
| 直探頭 | 1 | 個 | |
| 斜探頭 | 1 | 個 | |
| 探頭連接線纜 | 1 | 條 | |
| 電池模塊 | 1 | 個 | 內置 |
| 電源適配器 | 1 | 個 | |
| 電源線 | 1 | 條 | |
| 儀器箱 | 1 | 個 | |
| USB通訊線纜 | 1 | 條 | |
| 數據處理軟件 | 1 | 張 | 光盤 |
| 隨機資料 | 1 | 套 | |
可選
配置 | 主機皮套 | | | |
| 異型探頭 | | | |
| 相關試塊 | | | |
