美國(guó)DeFelsko金屬管鍍層測(cè)厚儀POSITEST_G/F
產(chǎn)品名稱：機(jī)械鍍層測(cè)厚儀/涂層測(cè)厚儀
規(guī)格型號(hào)：POSITEST G/POSITEST F
品牌廠家：美國(guó)DeFelsko/狄夫斯高
銷售代理：深圳市宇凱科技有限公司
美國(guó)DeFelsko金屬管鍍層測(cè)厚儀POSITEST_G/F產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
美國(guó)狄夫斯高Defelsko公司研制的PosiTestF/G機(jī)械鍍層測(cè)厚儀可無(wú)損測(cè)量鋼材上的非磁性鍍層,如油漆和諧共生、搪瓷、塑膠適應性強、鍍鋅層技術交流、滲金、電鍍等.的機(jī)身設(shè)計(jì),無(wú)需電池供電,可隨身攜帶,測(cè)量時(shí)只需將探頭接觸鍍層即可拓展。
美國(guó)DeFelsko金屬管鍍層測(cè)厚儀POSITEST_G/F產(chǎn)品特點(diǎn)：
精確
每個(gè)測(cè)厚儀均帶可溯源至美國(guó)IST的校準(zhǔn)證明
每個(gè)型號(hào)均可與校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)和程序匹配
高耐磨硬質(zhì)合金探頭利于使用壽命的***優(yōu)化和保證優(yōu)良精度的持久性
刻度盤的可調(diào)中心使校正調(diào)整變得簡(jiǎn)單方便
符合國(guó)際和國(guó)內(nèi)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
耐用
特別的紋理外殼,無(wú)懼機(jī)械沖擊,水,酸或溶劑
整體設(shè)計(jì),充分支承,強(qiáng)制定位,測(cè)量過(guò)程中無(wú)旋轉(zhuǎn)移動(dòng)可能
選擇充分支承測(cè)量或僅使用前測(cè)量臂的探頭接觸鍍層測(cè)量均可
稀土鈷磁鋼的持久磁性,無(wú)需電池
防爆創造更多，的安全性
使用簡(jiǎn)便
設(shè)有直觀提示和聲音提示,提醒測(cè)量完畢
“V”形槽的探頭外殼設(shè)計(jì)和的儀器機(jī)座,便于在圓柱形樣品上的定位和測(cè)量
精湊,輕便,精確的平衡性,不受地心吸力(重力)影響，可在任何地方使用
GO/O-GO(啟動(dòng)/禁動(dòng))按鈕可預(yù)設(shè)以備快速測(cè)量
探頭放置和轉(zhuǎn)盤旋轉(zhuǎn)僅需一指操作
附帶的腕帶和說(shuō)明書置于高質(zhì)皮革盒內(nèi)備用
美國(guó)DeFelsko金屬管鍍層測(cè)厚儀POSITEST_G/F參數(shù)規(guī)格:
G/GM型用于:電鍍,薄漆膜,磷化膜在鋼鐵上的測(cè)量 |
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測(cè)量范圍GM：0至8mils+ |
精度GM:0.04mils（0.8mils以內(nèi)）不斷進步；±5%的讀數(shù)（超過(guò)0.8mils時(shí)） |
測(cè)量范圍G：0至200μm |
精度F：±1μm（20μm以內(nèi)）工藝技術；±5%的讀數(shù)（超過(guò)20μm時(shí)） |
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F/FM型用于:熱鍍鋅,滲硬鉻,油漆,搪瓷,塑膠鍍層在鋼鐵上的測(cè)量 |
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測(cè)量范圍FM：0至80mil |
精度FM：±0.2mils（4mils內(nèi)）；±5%的讀數(shù)（超過(guò)4mils時(shí)） |
測(cè)量范圍F：0至2000μm |
精度F：±5μm(100μm內(nèi))規模；±5%的讀數(shù)（超過(guò)100μm時(shí)） |
美國(guó)DeFelsko金屬管鍍層測(cè)厚儀POSITEST_G/F操作說(shuō)明：
工作原理：
無(wú)需電源供應(yīng)測(cè)量磁鋼與磁性基體（鋼或鎳）間的磁吸力與盤狀彈簧的彈力平衡近年來。盤狀彈簧的旋轉(zhuǎn)彈力的大小與涂層厚度直接相關(guān)。平衡臂保證了各種方位的準(zhǔn)確測(cè)量（如垂直面或仰面測(cè)量）發展目標奮鬥。
如何測(cè)量：
測(cè)量前技術先進，請(qǐng)仔細(xì)清除磁頭和測(cè)量點(diǎn)的油污和灰塵，以免影響測(cè)量結(jié)果延伸。將測(cè)厚儀磁測(cè)頭垂直于鐵基表面認為；慢慢將指輪向前旋轉(zhuǎn)（注意：推動(dòng)指輪時(shí)，不能觸動(dòng)按鈕和拖動(dòng)儀器）技術特點，直到磁頭跳起提高鍛煉，刻度盤也隨之自動(dòng)停止轉(zhuǎn)動(dòng)，同時(shí)聽(tīng)到“呵噠”一聲凝聚力量。此時(shí)製高點項目，刻度盤上的讀數(shù)即為所測(cè)量覆層的厚度值。
在平面上測(cè)量：
測(cè)量面方位對(duì)于測(cè)量沒(méi)有影響範圍和領域，注意技術(shù)數(shù)據(jù)表中所列的最小測(cè)量范圍和基體的厚度有所增加。
在曲面上測(cè)量：
測(cè)量圓柱或圓形邊緣時(shí)，可以利用儀器測(cè)量嘴上的V型口更高要求，測(cè)量凹面時(shí)與測(cè)量平面相同越來越重要的位置，但要注意最小曲率的限制。
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