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公司名稱 北京八零時(shí)代科技發(fā)展有限公司
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所在地 北京市
廠商性質(zhì) 其他
更新時(shí)間 2024/12/19 15:39:33
訪問次數(shù) 9

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2020年01月08日至 2020年02月08日

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模內(nèi)澆口分離自動化，降低對人的依賴度強大的功能；傳統(tǒng)的塑膠模具開模后產(chǎn)品與澆口相連實際需求，需二道工序進(jìn)行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開模前優勢，消除后續(xù)工序善謀新篇，有利于生產(chǎn)自動化，降低對人的依賴便利性。

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介紹SIDSP技術(shù)詳解MiniTest720MiniTest730MiniTest740涂層測厚儀-的SIDSP（探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理）技術(shù)提升了測量的精確性-測量范圍達(dá)15mm

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介紹

SIDSP技術(shù)詳解

MiniTest720MiniTest730MiniTest740涂層測厚儀
-的SIDSP（探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理）技術(shù)提升了測量的精確性
-測量范圍達(dá)15mm方法，可更換F、N或FN探頭提供有力支撐，供內(nèi)置或外接探頭使用
-FN探頭自動識別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體切實把製度，操作方便不易出錯(cuò)

SIDSP技術(shù)-技術(shù)，智能數(shù)字化的涂層測厚探頭
模擬信號處理時(shí)代已成過去自行開發，數(shù)字信號處理將成為未來的趨勢
MiniTest 720/730/740涂層測厚儀采用的SIDSP是什么進行部署？
SIDSP是由ElektrPhysik（簡稱EPK）研發(fā)的，的涂層測厚探頭技術(shù)應用情況。EPK此項(xiàng)技術(shù)為涂層測厚領(lǐng)域的奠定了標(biāo)準(zhǔn)保護好。
SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理，這項(xiàng)技術(shù)使探頭在測量時(shí)表現，同時(shí)在探頭內(nèi)部將信號處理為數(shù)字形式特點。SIDSP探頭依據(jù)生產(chǎn)。
MiniTest 720/730/740涂層測厚儀的SIDSP工作原理結論？
跟傳統(tǒng)技術(shù)不同和諧共生，SIDSP在探頭頂部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號，回傳的信號經(jīng)過32位數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理智能化，帶給您精確的涂層厚度值科技實力。此項(xiàng)的數(shù)字處理技術(shù)，同時(shí)應(yīng)用在現(xiàn)代通訊技術(shù)（手機(jī)網(wǎng)絡(luò)）方面建設，如數(shù)字濾波器在此基礎上，基帶轉(zhuǎn)換，平均值姿勢，隨機(jī)分析相互融合，等等首要任務。此項(xiàng)技術(shù)能獲得與模擬信號處理的信號質(zhì)量和精確度。厚度值通過探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置不同需求。
SIDSP探頭與普通模擬探頭相比發展，具有決定性的優(yōu)勢，為涂層測厚設(shè)定了一個(gè)的標(biāo)準(zhǔn)總之。
MiniTest 720/730/740涂層測厚儀為什么選擇SIDSP面向？
SIDSP探頭具有的抗干擾性
任何與測量相關(guān)的信號，都由SIDSP在靠近探頭頂部的位置進(jìn)行處理研學體驗。測量信號不會通過探頭電纜傳輸時(shí)受到干擾建設項目，因?yàn)椴辉儆袦y量信號的傳輸。探頭電纜僅僅為探頭供電落實落細，并傳輸數(shù)字化的厚度值到顯示裝置相結合。即使您的測量工件需要特別長的電纜線也沒問題，加長的電纜線同樣具有的抗干擾能力製高點項目。

MiniTest 720/730/740涂層測厚儀SIDSP-測量信號高穩(wěn)定性
EPK的SIDSP探頭具有的重現(xiàn)性為產業發展。將探頭放在同一測量點(diǎn)測量幾次，每次您都可以得到基本一樣的結(jié)果有所增加，再次證明了SIDSP探頭的優(yōu)秀性能各項要求。

MiniTest 720/730/740涂層測厚儀高精確度的SIDSP探頭特征曲線
在生產(chǎn)過程中，EPK的SIDSP探頭要經(jīng)過嚴(yán)格的校準(zhǔn)反應能力。一般的模擬探頭只會在特征曲線上選幾個(gè)點(diǎn)來校準(zhǔn)共謀發展，但SIDSP探頭不同：由于是全自動化過程，探頭在50個(gè)點(diǎn)上進(jìn)行校準(zhǔn)結構重塑，大大降低了特征曲線的偏離聽得懂。因此特征曲線在整個(gè)量程范圍內(nèi)都十分精準(zhǔn)，將測量錯(cuò)誤降至低高質量發展。
MiniTest 720/730/740涂層測厚儀技術(shù)數(shù)據(jù)表
SIDSP探頭

探頭特性	F1.5全方位，N0.7，F(xiàn)N1.5		F2	F5影響力範圍，N2.5大局，F(xiàn)N5		F15
	F	N	F	F	N	F
測量范圍	0-1.5mm	0-0.7mm	0-2mm	0-5mm	0-2.5mm	0-15mm
使用范圍	小工件，薄涂層邁出了重要的一步，跟測量支架一起使用		粗糙表面	標(biāo)準(zhǔn)探頭宣講手段，使用廣泛		厚涂層
測量原理	磁感應(yīng)	電渦流	磁感應(yīng)	磁感應(yīng)	電渦流	磁感應(yīng)
信號處理	探頭內(nèi)部32位信號處理（SIDSP）
精確度	±（1μm+0.75%讀值）		±（1.5μm+0.75%讀值）			±（5μm+0.75%讀值）
重復(fù)性	±（0.5μm+0.5%讀值）		±（0.8μm+0.5%讀值）			±（2.5μm+0.5%讀值）
低端分辨率	0.05μm		0.1μm			1μm
小曲率半徑（凸）	1.0mm		1.5mm			5mm
小曲率半徑（凹，外置探頭）	7.5mm		10mm			25mm
小曲率半徑（凹積極拓展新的領域，內(nèi)置探頭）	30mm		30mm			30mm
小測量面積	Φ5mm		Φ10mm			Φ25mm
小基體厚度	0.3mm	40μm	0.5mm	0.5mm	40μm	1mm
連續(xù)模式下測量速度	每秒20個(gè)讀數(shù)
單值模式下大測量速度	每分鐘70個(gè)讀數(shù)

MiniTest 720/730/740涂層測厚儀主機(jī)

型號特性	MiniTest 720	MiniTest 730	MiniTest 740
探頭類型	內(nèi)置	外置	內(nèi)置外置可換
數(shù)據(jù)記憶組數(shù)	10	10	100
存儲數(shù)據(jù)量	10,000個(gè)	10,000個(gè)	100,000個(gè)
統(tǒng)計(jì)值	讀值個(gè)數(shù)配套設備，小值，大值相對開放，平均值推進高水平，標(biāo)準(zhǔn)方差脫穎而出，變異系數(shù)，組統(tǒng)計(jì)值（標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置）
校準(zhǔn)程序符合國際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范	ISO生產創效，SSPC結構，瑞典標(biāo)準(zhǔn)，澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)
校準(zhǔn)模式	出廠設(shè)置校準(zhǔn)優化上下，零點(diǎn)校準(zhǔn)能力建設，2點(diǎn)校準(zhǔn)，3點(diǎn)校準(zhǔn)不斷創新，使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值
極限值監(jiān)控	聲建立和完善、光報(bào)警提示超過極限
測量單位	um，mm參與水平，cm；mils服務效率，inch明確相關要求，thou
操作溫度	-10℃-60℃
存放溫度	-20℃-70℃
數(shù)據(jù)接口	IrDA 1.0（紅外接口）
電源	2節(jié)AA電池
標(biāo)準(zhǔn)	DIN EN ISO 1461，2064統籌發展，2178深化涉外，2360，2808生產製造，3882開展試點，19840 ASTM B244，B499共同，D7091推進一步，E376 AS 3894.3，SS 1841 60簡單化，SSPC-PA 2
體積	157mm x 75.5mm x 49mm
重量	約175g	約210g	約175g（內(nèi)置）/230g（外置）