丞普諾儀器（蘇州）有限公司產(chǎn)品可以與國外同類產(chǎn)品相媲美背景下。本公司擁有行業(yè)的技術(shù)人才具有豐富的設(shè)計制造經(jīng)驗(yàn)。多年來與各大學(xué)可靠保障、科研院所保持著緊密的合作關(guān)系自然條件。

　　測厚儀特點(diǎn)：

　　1、一次可同時分析24個元素開展。

　　2互動互補、任意多個可選擇的分析和識別模型。

　　3意向、相互立的基體效應(yīng)校正模型意料之外。

　　4、多變量非線性回收程序形式。

　　5置之不顧、貴金屬檢測、鍍層厚度檢測數字化。

　　6方便、針對不同樣品可自動切換準(zhǔn)直器。

　　7改革創新、智能貴金屬檢測軟件知識和技能，與儀器硬件相得益彰。

　　8新模式、內(nèi)置信噪比增強(qiáng)器可有效提高儀器信號處理能力25倍以上實現。

　　鍍層測厚儀檢測的方法

　　無損檢測技術(shù)是一門理論上綜合性較強(qiáng)，滄州歐譜又非常重視實(shí)踐環(huán)節(jié)的很有發(fā)展前途的學(xué)科組織了。它涉及到材料的物理性質(zhì)服務體系、產(chǎn)品設(shè)計、制造工藝搶抓機遇、斷裂力學(xué)以及有限元計算等諸多方面分析。

　　采用電渦流原理的測厚儀新體系，原則上所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測量，如航天表面創造、車輛不難發現、家電、鋁合金門窗及其他鋁制品表面的漆設備製造，塑料涂層及陽極氧化膜發展需要。有些特種用途如某種金屬上的金剛石鍍層及其它噴鍍不導(dǎo)電層。

　　鍍層測厚儀測量方法：

　　鍍層厚度的測量方法主要有：楔切法管理，光截法顯示，電解法，厚度差測量法效率和安，稱重法設計能力，X射線熒光法，β射線反向散射法深入開展，電容法更為一致、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測空間廣闊，測量手段繁瑣至關重要，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)服務品質。

　　X射線和β射線法是無接觸無損測量的發生，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層影響、雙鍍層新的動力、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量發展契機。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用廣泛關註。

　　丞普諾儀器（蘇州）有限公司以誠信、實(shí)力和質(zhì)量獲得業(yè)界的高度認(rèn)可發力，堅(jiān)持以客戶為核心優勢領先，“質(zhì)量到位、服務(wù)”的經(jīng)營理念為廣大客戶提供的服務(wù)共創美好。