CMI900 X射線熒光鍍層測厚儀介紹：

CMI900熒光X射線鍍層測厚儀，有著非破壞快速融入，非接觸認為，快速無損測量，多層合金測量增強，高生產(chǎn)力重要意義，高再現(xiàn)性等優(yōu)點的情況下進(jìn)行表面鍍層厚度的測量，從質(zhì)量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應(yīng)用更加廣闊。

CMI900 X射線熒光鍍層測厚儀適用范圍：

用于電子元器件規劃，半導(dǎo)體，PCB可以使用，F(xiàn)PC進入當下，LED支架，汽車零部件效高化，功能性電鍍新體系，裝飾件，連接器創造，端子長效機製，衛(wèi)浴潔具，首飾飾品……多個行業(yè)表面鍍層厚度的測量全技術方案；

測量鍍層分享，金屬涂層，薄膜的厚度或液體（鍍液的成分分析）組成信息化。

CMI900 X射線熒光鍍層測厚儀主要特點：

測量范圍寬方式之一，可檢測元素范圍：Ti22–U92；

可同時測定5層/15種元素/共存元素較正新型儲能；

精度高創新能力、穩(wěn)定性好；

強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計範圍、處理功能求得平衡；

NIST認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片；

服務(wù)及支持。