SAM 402 雙探頭掃描超聲掃描顯微鏡（SAM）
主要技術(shù)參數(shù)：
一 機械部分：
1. X/Y 兩軸均為超高速不折不扣、線性馬達驅(qū)動系統(tǒng), X / Y 軸內(nèi)置磁力機構(gòu)；
2. 配有防震系統(tǒng)與慣性平衡機構(gòu)資源優勢，隔絕在高速掃描過程中振動影響高效利用，確保圖像不會因快速掃描而失真；
3. Z 軸行程大于100mm
4. Z軸自動對焦估算，不僅可以自動對焦到樣品表面講理論，而且同時還可對樣品內(nèi)部任意界面自動對焦; 逐層自動對焦可設(shè)定步距，Z-軸探頭按步距從樣品底部開始向上逐層掃描不要畏懼；
5.雙探頭可同時掃描服務為一體，每個探頭掃描范圍：最小0.20 mm × 0.20 mm；> 430 mm × 430 mm保持競爭優勢；可自定義掃描區(qū)域進行培訓，可任意輸入或框選掃描面積（正方形，長方形長效機製，矩形）法治力量；同時還能自定義序列掃描，跳過沒有樣品的空白位置分享；可自動尋找被測樣品的中心位置和樣品邊緣尺寸共享，自動設(shè)定掃描范圍；
6. 掃描速率：1,500 mm/s
7. 重復(fù)精度：+/- 0.1μm
8. 標(biāo)準工作水槽尺寸：870 *670 * 70mm 或870 * 670 * 150mm 或定制加長工作水槽方式之一，配置工字形樣品臺
二電子部分:
1. DPR 500 超聲波接收和發(fā)射器頻率帶寬：500MHz
2. ADC卡采樣頻率：1.25G/秒 ( 2G , 5G 可選 ）
3. 前置放大器：L2生動，H2和諧共生，H3（選配）
支持換能器（探頭）范圍：5MHz- 400MHz
部分可選項：
1. 德國 PVA Hibert Filter- 外置濾波器（軟件開關(guān)控制建設應用，用于110MHz 以上延遲性探頭使用）
2. 各種樣品吸盤改善、夾具定制共享應用、半自動化設(shè)備升級
3 專業(yè)圖像處理與計算軟件（空洞率計算和顆粒度分析，不僅適用于超聲波掃描顯微鏡好宣講，同時可用于電鏡註入新的動力、光學(xué)顯微鏡、共聚焦顯微鏡、X-Ray 等眾多顯微檢測設(shè)備）
軟件部分:
Winsam 8超聲掃描成像軟件雙重提升，部分功能介紹：
1. 主要掃描模式包括：A掃描（點掃描）、B掃描事關全面、C掃描表現明顯更佳、多層C掃描、在不同的Z高度進行連續(xù)的C掃描技術節能、多重門限掃描指導、透射掃描、托盤掃描國際要求、流動性、順序掃描、高清晰掃描競爭激烈、表面跟蹤掃描持續創新、實體掃描、分頻掃描空白區、覆蓋掃描等喜愛；透射掃描模式選件：Through Scan 透射掃描固定單元及接收探頭；
2. 表面穩(wěn)定功能：可消除或減弱樣品表面刻字開放要求，激光打標(biāo)等對樣品內(nèi)部超聲波信號所帶來的影響;
3. 圖像輸出格式：tiff, bmp, jpeg, png 等;tiff格式能一鍵存儲保存所有的掃描參數(shù)向好態勢，可在下一次掃描時調(diào)用；
4．定量測量功能：X -Y 長度測量迎來新的篇章、厚度與距離測量共創美好、缺陷百分比計算：可根據(jù)樣品的實際輪廓（圓形推動並實現，矩形薄弱點，不規(guī)則形）進行缺陷面積百分比統(tǒng)計分析，樣品掃描后可提供缺陷尺寸列表并輸出報告優化程度，點擊列表中任一行可顯示該缺陷在掃描圖像上的X/Y 區(qū)域積極性，便于進一步分析和定位缺陷等；
5. 圖像著色功能：根據(jù)相位翻轉(zhuǎn)自動著色不斷豐富；根據(jù)灰度等級手動著色實施體系；根據(jù)渡越時間手動著色組建，根據(jù)厚度變化手動著色（已知材料的阻抗值）
6. 報告生成：掃描后生成掃描分析報告，報告中包含：最終掃描圖片效果較好、各種掃描參數(shù)設(shè)置重要的意義、樣品的A掃描波形圖等；
7．軟件可顯示探頭在水槽中的X/Y/Z三維坐標(biāo)和當(dāng)前所設(shè)定的掃描范圍等多個領域；
8．用戶可自主選擇XY軸移動方向再獲、各種探頭回位方式、以何種方式調(diào)用之前掃描保存的圖片來獲得掃描參數(shù)等應用擴展；
9. 射頻增益窗口：-22dB-50dB , 高級菜單設(shè)置
10. 圖像分辨率: ≥32000 * 32000 像素
