功能特點:

• “3+4+1”多通道設(shè)計：3個TOFD通道可一次覆蓋200mm厚度的焊縫檢測覆蓋，傳統(tǒng)射線檢測的理想替代方案異常狀況；4個常規(guī)通道可對焊縫的表面盲區(qū)和底面盲區(qū)全覆蓋檢測，3個TOFD通道和4個PE通道的探頭線由同一根電纜線引出高效；1個單通道作為單通道的TOFD檢測及常規(guī)超聲檢測復(fù)核應用創新。
• 方波激勵，超保真低噪聲前置放大技術(shù)機構，缺陷識別更清晰的特性；配合本公司前置放大器CTS-8682，信噪比提高10dB左右攜手共進。
• 的通道間噪聲抑制技術(shù)共同，解決國內(nèi)儀器多通道間串擾問題。
• 滿足國內(nèi)TOFD標準NB/T47013.10高質量、DL/T330充分發揮、GB/T 23902，兼容EN12668-1標準管理。
• 8.4寸工業(yè)級TFT顯示屏（800×600）設計，全觸控操作，提高您的檢測效率改進措施。
• 高達400MHz的A/D采樣頻率就此掀開，高采樣深度。
• 一次性TOFD掃描長度達40m今年。
• A掃描穩步前行、B掃描、TOFD掃描等多種探傷功能動手能力。
• 豐富的數(shù)據(jù)接口逐步改善，雙USB接口，LAN網(wǎng)絡(luò)接口提升，HDMI高清數(shù)字接口大大提高。
• 多種掃查器可選，為用戶定制專用掃查器,標配掃查器為SCQtofd-3研究成果。
• 采用專用航空級定制數(shù)據(jù)電纜線取得了一定進展，信號傳輸損耗小，柔韌性能特佳大面積。
• 集成多種標定功能：根據(jù)直通波和底波的深度校準積極參與，根據(jù)直通波的零刻度校準，根據(jù)底波的厚刻度線校準培養；滿足各種條件下的圖像標定交流研討。
• 集成多種圖像處理功能：合成孔徑聚焦（SAFT）技術(shù)、拉直推動、差分相對較高、對比度、放大等信息。
• 集成多種缺陷標記功能：矩形模式相關、長度模式、高度模式豐富內涵、自由模式生產效率，滿足各類缺陷的標記。
• 掃查圖像可以直接復(fù)制到粘貼板多種，在報告中直接粘貼將進一步；掃查圖像可另存為圖片，圖片的格式可選BMP/JPEG/TIFF/PNG/GIF；檢測參數(shù)及缺陷信息易于查看成就，內(nèi)嵌檢測報告模板重要方式，檢測報告模板可為用戶定制。
• 內(nèi)嵌曲面工件掃查的工藝參數(shù)計算工具系統，平板工件的多通道工藝參數(shù)計算工具非常重要，為用戶提供檢測工藝設(shè)計作參考。
• 離線分析軟件同時兼容CTS-1008plus及CTS-2009兩款儀器空間廣闊。
• 存儲容量達16G（可外接擴展到32G）營造一處，存儲長度可達5000m以上（掃查精度）；全天候探傷數(shù)據(jù)記錄知識和技能。
• 便攜式設(shè)計取得顯著成效，重量僅3.0kg（含電池），便于攜帶實現。
• 大容量鋰電池不容忽視，可連續(xù)工作6小時，配備兩塊電池可滿足一天的工作量的可能性。

一 功能強大的離線分析軟件

1 主分析軟件

• 快捷的文件打開模式不要畏懼。
• 多種深度校準方式選擇。
• 拉直問題、差分逐漸顯現、對比度、放大系統穩定性、合成孔徑聚焦（SAFT）拓展基地、曲線擬合等多種圖像處理方法。通過鼠標滾輪可連續(xù)調(diào)節(jié)對比度及SAFT窗口實力增強，實時動態(tài)更新圖像體系流動性。
• 多種缺陷標記方式，矩形帶來全新智能、長度實現了超越、高度、自由模式可選去完善。
• 內(nèi)置標準檢測報告模板創新能力，可為用戶定制專用檢測報告格式。
• 原始圖像與SAFT圖像同步顯示範圍，缺陷測量評定方便快捷求得平衡。
• 圖像可復(fù)制，可另存為各種格式圖片文件空間廣闊，出報告簡單輕松至關重要。
• 內(nèi)嵌曲面工件檢測工藝計算及多通道檢測工藝計算工具提供深度撮合服務。

SAFT處理前 SAFT處理后

2 曲面工件檢測工藝計算

提供凹面及凸面工件檢測工藝計算，快捷得出弧長的發生、PCS組成部分、弦高等工藝參數(shù)，弧長用于調(diào)節(jié)探頭間距狀態，弦高用于修正缺陷高度技術節能。

3 多通道檢測工藝計算

支持國內(nèi)NB/T47013及DL/T330兩種標準指導，可同時設(shè)計5個通道的檢測參數(shù)廣泛認同，滿足400mm厚度焊縫的檢測工藝×鲃有?？煽旖萦嬎鉚OFD常用的工藝參數(shù)如探頭中心間距（PCS）鍛造、深度覆蓋范圍、底面覆蓋持續創新、時差周期改善、深度分辨力、掃查面盲區(qū)協調機製、中心底面盲區(qū)信息化、軸偏離底面盲區(qū)。

二 配套探頭及楔塊

系列探頭的頻率范圍為1MHz至10MHz實踐者，晶片尺寸范圍為3mm至20mm取得明顯成效，系列楔塊的角度為45°、60°及70°數據，滿足標準推薦使用的要求創新的技術，覆蓋400mm厚度的檢測要求。探頭接口規(guī)格為L5或C5接口顯著。

探頭規(guī)格：

型號說明：以10N3-T1為例快速增長，10表示探頭頻率具有重要意義，N表示晶片材料代號積極參與，3表示晶片直徑相結合，T1表示探頭外殼型號現場。

楔塊規(guī)格：

型號說明：以ST1-45L為例方法，ST1表示楔塊型號基礎上，匹配的探頭外殼型號為T1影響，45表示鋼中折射角為45°法治力量，L表示檢測波形為縱波重要的意義。