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半導體中空玻璃露點儀是根據中華人民共和國國定標準GB/T11944-2002《中空玻璃》設計研制的中空玻璃專用的檢測儀器意料之外。使用于中空玻璃、真空玻璃及密封玻璃制品的露點檢測形式。廣泛用于玻璃深加工企業(yè)的質量控制和各級質量監(jiān)督檢測部門置之不顧。
儀器結構與工作原理
本儀器由低溫測試頭和制冷機組組成,通過測試頭和被檢測樣品的緊密接觸進一步提升,使樣品表面局部冷卻空間廣闊,當達到一定溫度后,內部水氣在冷點部分結露或結霜改革創新。露點儀主要檢測樣品在某一溫度下是否結露或結霜知識和技能。
規(guī)格及主要技術參數
1、低溫測試頭表面直徑:50mm新模式。
2實現、測溫范圍:-45-0℃ 準確度:0.5%
3、工作電壓:220伏
4組織了、使用環(huán)境:溫度0-50℃
設備清單
1.制冷主機 1套
2.低溫測試頭 1個
3.真空吸盤 1個
4.產品合格證 1份
5.產品說明書 1份
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