商品規(guī)格：FJ1200

商品簡述： FJ1200環(huán)境級X、γ輻射測量儀主要用于環(huán)境輻射本底以及低水平X發展空間、γ輻射的準(zhǔn)確快速測量,儀器采用NaI晶體作為探測器效果，具有靈敏度高的特性。儀器攜帶方便足了準備，易于操作合作關系。本儀表可用于環(huán)保部門檢測環(huán)境本底情況，醫(yī)院人員監(jiān)測射線醫(yī)療設(shè)備附近本底深刻內涵，無損檢驗(yàn)(即射線探傷)裝置是否有輻射泄漏傳遞，核電站附近居民區(qū)環(huán)境本底測量，門的輻照育種設(shè)備是否有輻射泄漏深入闡釋。

適用人群和機(jī)構(gòu)有：環(huán)境監(jiān)測機(jī)構(gòu)相關性，醫(yī)院輻射醫(yī)療設(shè)備操作管理人員，射線探傷裝置的操作和管理人員提高，經(jīng)常需要使用放射源的劑量刻度站和研究核輻射和輻射儀表的科研人員等可以使用。

【技術(shù)指標(biāo)】 ◆輻射類型：X進入當下，γ 

◆探測器：Φ50 × 40 mm紮實，NaI（Tl）晶體

◆測量范圍：0.01 ~ 200µSv/h 

◆測量精度：± 10%（100 µSv/h，137Cs） 

◆能量響應(yīng)： 40 keV ~ 1.3 MeV 

◆響應(yīng)時間：< 3 s ◆工作時間：4節(jié)AA1.5V電池

◆機(jī)械尺寸：主機(jī)：寬141 mm × 高111 mm × 厚38 mm

◆探頭：Φ 60 × 254 mm（不含手柄）