一.產(chǎn)品簡介

 1.Ux-720新一代國產(chǎn)專業(yè)鍍層厚度檢測儀近年來，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測器），測量精度和測量結(jié)果業(yè)界發展目標奮鬥。

2.采用了FlexFP-Multi技術(shù)技術先進，無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制，還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢延伸，我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求認為。

3.Ux-720微移動平臺和高清CCD搭配，旋鈕調(diào)節(jié)設(shè)計在殼體外部新趨勢，觀察移動位置簡單方便反應能力。

 4.X射線熒光技術(shù)測試鍍層厚度的應用，提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗條件學習，無損結構重塑、快速和更準確的特點聽得懂，對在電子和半導體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗的保障。

 5.Ux-720鍍層測厚儀采用了華唯技術(shù)FlexFp -Multi大大縮短，不在受標準樣品的限制要落實好，在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度，測試結(jié)果經(jīng)得起科學驗證更默契了。

 6.樣品移動設(shè)計為樣品腔外部調(diào)節(jié)先進技術，多點測試時移動樣品方便快捷，有助于提升效率不合理波動。

 7.設(shè)計更科學宣講手段，軟硬件配合，機電聯(lián)動積極拓展新的領域，輻射安全高于國標GBZ115-2002要求基礎。

 8.軟件操作具有操作人員分級管理權(quán)限，一般操作員多種方式、主管使用不同的用戶名和密碼登陸對外開放，測試的記錄報告同時自動添加測試人的登錄名稱。

二.技術(shù)參數(shù)

1.測厚技術(shù)：X射線熒光測厚技術(shù)

2.測試樣品種類：金屬鍍層深入交流研討，合金鍍層

3.測量下限：0.003um

4.測量上限：30-50um（以材料元素判定）

5.測量層數(shù)：10層

6.測量用時：30-120秒

7.探測器類型：Si-PIN電制冷   

8.探測器分辨率：145eV

9.高壓范圍：0-50Kv資料，50W

10.X光管參數(shù)：0-50Kv，50W關註度，側(cè)窗類橫向協同；

11.光管靶材：Mo靶；

12.濾光片：專用3種自動切換敢於挑戰；

13.CCD觀察：260萬像素

14.微移動范圍：XY15mm

15.輸入電壓：AC220V不斷創新，50/60Hz

16.測試環(huán)境：非真空條件

17.數(shù)據(jù)通訊：USB2.0模式

18準直器：?1mm，?2mm提供了遵循，?4mm

19.軟件方法：FlexFP-Mult

20.工作區(qū)：開放工作區(qū) 自定義

21.樣品腔：330×360×100mm

三.標準配件

樣品固定支架1支

窗口支撐薄膜：100張

保險管：3支

計算機主機：品牌+雙核

顯示屏：19吋液晶

打印機：噴墨打印機