一.產(chǎn)品簡介

   1.本著對插接件等細(xì)小結(jié)構(gòu)件的單鍍層和多鍍層厚度的測量集中展示，Ux-700更專業(yè)小樣品測試腔的設(shè)計，帶有聚焦光點的準(zhǔn)直器體系流動性，高分辨率的探測系統(tǒng)探索創新，眾多條件的選擇，保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確性實現了超越。

2.X射線熒光技術(shù)測試鍍層厚度的應(yīng)用新產品，提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗條件，無損橋梁作用、快速和更準(zhǔn)確的特點長遠所需，對在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗的保障。

3.Ux-700鍍層測厚儀配備了XY軸微移動平臺讓人糾結，可以通過鼠標(biāo)的點擊操作規模，選擇樣品的多點測試，特別適應(yīng)于細(xì)小結(jié)構(gòu)多種不同鍍層材料的測試基石之一。

4.Ux-700鍍層測厚儀具有高清晰聯動、高放大倍數(shù)的攝像設(shè)備，測試樣品的部位清楚明了共同努力，同時攝像設(shè)備拍抓測試部位的圖片行業內卷，和測試數(shù)據(jù)結(jié)果一同出現(xiàn)在測試報告中。

5.Ux-700鍍層測厚儀采用了華唯技術(shù)FlexFp -Multi逐漸完善，不在受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制能力和水平，在無鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度。

二.技術(shù)參數(shù)

1.測厚技術(shù)：X射線熒光測厚技術(shù)

2.測試樣品種類：金屬鍍層異常狀況，合金鍍層

3.測量下限：0.003um

4.測量上限：30-50um（以材料元素判定）

5.測量層數(shù)：10層

6.測量用時：30-120秒

7.探測器類型：Si-PIN電制冷   

8.探測器分辨率：149eV

9.高壓范圍：5-50Kv研究，50W

10.X光管參數(shù)：5-50Kv，50W應用創新，側(cè)窗類競爭激烈；

11.光管靶材：Mo靶；

12.濾光片：專用鍍層濾光片

13.CCD觀察：260萬像素

14.微移動范圍：XY15mm

15.輸入電壓：AC220V改善，50/60Hz

16.測試環(huán)境：非真空條件

17.數(shù)據(jù)通訊：USB2.0模式

18.準(zhǔn)直器：?0.5mm

19.軟件方法：FlexFP-Mult

20.工作區(qū)：開放工作區(qū) 自定義

21.樣品腔：70*20mm

22.整機重量：38kg