水平線性又稱時基線性深入交流，或掃描線性。是指輸入到超聲檢測儀中的不 同回波的時間間隔與超聲檢測儀顯示屏?xí)r基線上回波的間隔成正比關(guān)系的 程度加強宣傳。水平線性影響缺陷位置確定的準(zhǔn)確度臺上與臺下。水平線性的測試可利用任何 表面光滑、厚度適當(dāng)技術發展，并具有兩個相互平行的大平面的試塊集聚效應，用縱波直探 頭獲得多次回波，并將規(guī)定次數(shù)的兩個回波調(diào)整到與兩端的規(guī)定刻度線對 齊重要手段，之后互動講，觀察其他的反射回波位置與水平刻度線相重合的情況。其測試 步驟如下:
(1)將直探頭置于 CSK-IA 試塊上像一棵樹，對準(zhǔn) 25mm 厚的大平底面過程中， 如圖 a 所示
(2)調(diào)整微調(diào)去突破、水平或脈沖移位等旋鈕，使示波屏上出現(xiàn)五次底波 B1 到 B5達到，且使 B1 對準(zhǔn) 2.0智能設備，B5 對準(zhǔn) 10.0，如圖 b 所示
(3)觀察和記錄 B2蓬勃發展、B3喜愛、B4 與水平刻度值 4.0、6.0開放要求、8.0 的偏差 值 a2向好態勢、a3、a4服務機製。
(4)計算水平誤差:公式
式中貢獻力量，amax——a2，a3大幅拓展，a4 中者 b——示波屏水平滿刻度值
在利用縱波探傷時發行速度，可以利用試塊的已知厚度來調(diào)整探測范圍和掃描 速度，此過程我往往和檢驗(yàn)時基線性同步進(jìn)行緊迫性。當(dāng)探測范圍在 250mm 以 內(nèi)時結構，可將探頭置于 25mm 厚的大平底上，使四次底部回波位于刻度四高效， 十次底部回?fù)芪挥诳潭仁疁贤▍f調，則刻度十就代表實(shí)際探測聲程為 250mm。當(dāng)探測聲程范圍大于 250mm 時體系，可將探頭置于如圖的 B 或 C 處保障性，使各次底 波位于相應(yīng)的刻度處，此時起始零點(diǎn)亦同時得到修正責任製。
由于縱波的聲程 91mm 相當(dāng)于橫波聲程 50mm十分落實，因此可以利用試塊 上 91mm 來調(diào)整橫波的檢測范圍和掃描速度。例如橫波 1:1規則製定，先用直探頭 對準(zhǔn) 91 底面製造業，是 B1、B2 分別對準(zhǔn) 50關規定、100發展基礎，然后換上橫波探頭并對準(zhǔn) R100 圓弧面，找到回波安全鏈，并調(diào)至 100 即可顯示。
(1)抑制旋鈕調(diào)至“0”，探頭置于如圖所示位置真正做到，左右移動探頭科普活動， 使顯示屏上出現(xiàn) 85創新延展、91、100 三個反射回波 A長期間、B基本情況、C 如圖所示，則波峰 和波谷的分貝差 20Lg(a/b) 表示分辨力高端化。
(2)NB/T47013-2015 中規(guī)定力量，直探頭遠(yuǎn)場分辨力大于等于 20dB。
(1)探頭置于如圖所示位置提單產，對準(zhǔn) 50mm深入實施、44mm、40mm 階梯孔發展空間， 使示波屏上出現(xiàn)三個反射波效果。
(2)平行移動探頭并調(diào)節(jié)儀器，使 50mm解決、44mm 回波等高預期，如圖所示， 其波峰和波谷分別為 h1幅度、h2結構，其分辨力為
X = 20Lgh1/h2(dB)
NB/T47013-2015 中規(guī)定，斜探頭的遠(yuǎn)場分辨力大于等于 12 分貝貢獻。
測定斜探頭入射點(diǎn)
將探頭置于圖示位置規模最大，向 R100mm 的圓弧發(fā)射超聲波，前后移動探頭防控， 直到 R100mm 圓弧面反射波達(dá)到點(diǎn)成效與經驗，此時與 CSK-1A 試塊側(cè)面標(biāo) 線中心點(diǎn)“0”相對應(yīng)的探頭契塊那一點(diǎn)即為探頭入射點(diǎn)適應性。
測定斜探頭K值
根據(jù)探頭折射角的大小堅實基礎，將探頭置于試塊的不同位置進(jìn)行測量，如圖所示重要作用。波形圖同于入射點(diǎn)波形圖等地。
測量時，探頭應(yīng)放正使波束中心線與試塊側(cè)面平行尤為突出，前后移動探頭規定， 找到 50mm 孔或 1.5mm 孔的反射波。此時空間載體，聲束中心線必然與入射 點(diǎn)和圓心之間的連線相重合高質量，即聲束中心線垂直于孔表面。這時重要組成部分，試塊上 與入射點(diǎn)相應(yīng)的角度線所標(biāo)的值即為該斜探頭的 K 值流程。
垂直線性的檢驗(yàn)
將探傷儀的抑制和補(bǔ)償旋鈕置于“0”或“關(guān)”用直探頭放置在圖中 A 或 B 位置合作。并保證探頭與試塊之間有良好的聲耦合。
調(diào)整衰減器使試塊底波高度為熒光屏的滿刻度助力各業，此時必須有 30 分貝的 衰減量極致用戶體驗。然后每衰減 2 分貝用百分率讀出反射波高度，直到 26 分貝應用，在 判斷 30 分貝時反射波是否存在建議，將結(jié)果記錄表中。評定垂直線性時相貫通，以反 射波高度的理想波高為基準(zhǔn)拓展，以測試值與基準(zhǔn)值的正偏差(+d)及最 大負(fù)偏差(-d)之和來判定垂直線性。
D=[|+d|+|-d|]×%
盲區(qū)的估計
盲區(qū)是指最小的探測距離宣講活動，測試方法是:將直探頭置于探頭位置圖中 D前來體驗、 E 位置，測量 50mm 圓孔反射波確定性。從而可以估計出盲區(qū)小于等于 5mm 或 大于等于 10mm更加廣闊，或者介于兩者之間。
穿透能力估計
將直探頭置于探頭位置圖中 F 位置講故事，將儀器個靈敏度旋鈕均置于非常完善， 測試試塊中有機(jī)玻璃塊反射波次數(shù)和次反射波高度。以此來估計最 大穿透力全面革新，借以比較探傷儀器及探頭組合性能隨時間變化的情況作用。
探測靈敏度的調(diào)整
根據(jù) AVG 原理，在探頭探傷時可把 R100mm 圓弧面視為大平底反射行業分類， 以此來調(diào)整探測靈敏度技術特點。直探頭探傷時可把厚度為 25/100mm 的幾個側(cè)面 視為大平底處理，以此來調(diào)整靈敏度發展邏輯。另外凝聚力量，也可以根據(jù)探傷要求，儀測 量 1.5mm 橫通孔反射波來確定靈敏度聽得進。
在 CSK-IA 試塊上厚 25mm 的平面上新的力量，使聲束指向棱邊，對于 K 值小于等于 1 的探頭便利性，聲束經(jīng)底面反射指向上棱角;K 值大于 1 的聲束指 向下棱角全面展示，前后左右擺動探頭，使所測棱邊端角回波幅度深刻認識，固定探頭 不動核心技術，然后用量角器或適當(dāng)?shù)姆椒y量斜探頭幾何中心聲束軸線與棱邊法 線的夾角(例如測量探頭斜面與試塊端面垂直線的夾角)，即為聲束軸線 偏斜角主動性。應(yīng)當(dāng)注意:斜探頭的聲束擴(kuò)散角較大時創造性，可能影響到回波的 探測要素配置改革，以致可能產(chǎn)生較大的測量誤差。
