檢驗(yàn)產(chǎn)品品質(zhì)

測(cè)量

Jade Plus可以地檢測(cè)您的產(chǎn)品品質(zhì)。作為標(biāo)準(zhǔn)配置的測(cè)量功能可將X射線圖像轉(zhuǎn)換為定量數(shù)據(jù)重要的意義，利用這些數(shù)據(jù),您可以盡早發(fā)現(xiàn)新出現(xiàn)的品質(zhì)趨勢(shì)持續，以免為時(shí)已晚。

合規(guī)性

內(nèi)置尺寸測(cè)量工具再獲、BGA空洞分析產品和服務、凸點(diǎn)直徑和圓度以及通孔填充，可快速查找并表征缺陷體驗區，幫助您達(dá)到IPC-A-610和IPC-7095合規(guī)標(biāo)準(zhǔn)增多。

0.95 μm解析度

0.95μm解析度決定了是否能在無(wú)源元件中發(fā)現(xiàn)微裂紋。Jade Plus的解析度足以在微型BGA球內(nèi)進(jìn)行精確的空洞分析有望。

完整證明

三維可視化可清晰地證明產(chǎn)品質(zhì)量進一步推進。選配的μCT組件可將元器件的二維X射線圖像轉(zhuǎn)換為完整的三維模型。

快速檢測(cè)速度

自動(dòng)檢測(cè)程序

通過(guò)自動(dòng)檢測(cè)程序節(jié)省批量電路板的檢測(cè)時(shí)間方案。程序僅需一次編程應用的選擇，然后放置電路板并單擊運(yùn)行即可。幾秒鐘內(nèi)生成報(bào)告,報(bào)告可以保存在本地或數(shù)據(jù)庫(kù)中即將展開。

2個(gè)傾斜角

借助的雙斜軸幾何結(jié)構(gòu)大幅增加，可以快捷方便地找到質(zhì)量缺陷特性鞒?？稍诟叻糯蟊堵氏氯娴夭榭疵總€(gè)細(xì)節(jié)，而無(wú)需旋轉(zhuǎn)樣品建言直達。您永遠(yuǎn)不會(huì)錯(cuò)過(guò)樣品的測(cè)試角度多種。

輕松導(dǎo)航

借助組件導(dǎo)航圖可輕松到達(dá)想要的位置。只需單擊一下充分發揮，即可直接移動(dòng)到電路板上的任何位置發展成就。使用實(shí)時(shí)部件ID查看器覆蓋進(jìn)行移動(dòng)時(shí)，了解您正在查看的內(nèi)容重要方式。

DAGE XD7500VR JADE PLUS規(guī)格參數(shù)