測(cè)試對(duì)象及測(cè)試功能：
測(cè)試對(duì)象：
TTL適應性強、CEL、COMS先進的解決方案、NMOS及其他類型的MSI/LSI器件拓展，包括微處理器、微控制器宣講活動、配套的外圍品件不斷進步、靜態(tài)及動(dòng)態(tài)RAM、PROM效率、EPROM和一定范圍內(nèi)的集成電路規模。
測(cè)試功能：
真值表功能測(cè)試，直流參數(shù)測(cè)試
適用范圍
1.半導(dǎo)體器件生產(chǎn)廠家的生產(chǎn)測(cè)試（中測(cè)和成測(cè)）
2.整機(jī)廠講故事、研究單位的器件驗(yàn)收測(cè)試及其他各種應(yīng)用測(cè)試非常完善。
＊測(cè)試速率：２ＭＨz
∶嫦?。獪y(cè)試通道數(shù)：４８
＊接口：具有計(jì)算機(jī)通用外設(shè)接口研學體驗，串行Ｒ２３２通信接口建設項目，ＩＥＥ－４８８儀器接口，自動(dòng)中測(cè)臺(tái)落實落細、自動(dòng)上料器接口相結合。
＊應(yīng)用軟件主要包括：系統(tǒng)的診斷、校準(zhǔn)包為產業發展；測(cè)試程序庫範圍和領域。
BJ3140 現(xiàn)有測(cè)試程序
74LS系列：
00, 01, 02, 03, 04, 05, 08, 09, 10, 11, 12, 13, 15, 20, 27, 30, 32, 42, 47, 74, 75, 78a, 83a, 85, 86, 92, 93, 107, 109, 112, 113, 114, 123, 123s, 125, 126, 132, 133, 138, 139, 148, 151, 153, 155, 156, 157, 158, 161, 163, 163k, 164, 173, 174, 175, 181, 190, 193, 194, 195, 197, 221, 221s, 240, 241, 244, 245, 251, 253, 257, 258, 259, 260, 273, 279, 280, 299, 353, 367a, 373, 374, 393, 393a, 541, 574.
74S系列：
03, 05, 08, 09, 10, 11, 32, 40, 64, 86f, 114, 133, 138, 139, 151, 153, 157, 163-2, 181, 201, 241, 244, 251, 280, 299, 373.
74系列：
00, 01, 02, 03, 04, 05, 08, 09, 10, 12, 13, 14, 16, 17, 20, 22, 23, 25, 26, 27, 28, 30, 32, 37, 38, 40, 42a, 45, 50, 53, 54, 60, 74, 75,
76, 80, 100, 107, 122, 125, 151a, 153, 154, 156, 163, 176, 182, 195, 196, 221, 251, 265, 273, 276, 278, 279, 283, 293, 298, 367.
74HC系列：
00, 04, 161, 573.
54LS系列：
02，03各項要求，04更高要求，05，08新技術，09共同學習，10，11深入，12效高，251．
54S系列：
02, 03, 04, 05, 08, 09, 10, 11.
54HC系列：
221, 241, 393, 51, 76
4000系列:
00, 01, 02, 07ub, 08, 09ub, 10, 11, 11a, 13, 15, 17, 18, 19 20, 21, 22, 23, 24, 25, 26
其他：
8088, 8088c, 8212, 8214, 8216, 8226, 8228, 8238, 8253, 8255, 8259, 8259a, 8279, 8282, 8283, 8286, 8287, 8288, 82-c83, 6264, 8287, 2167, 2167-1, pyd76, s74138a, s74157, s74193. |
